中古 ADVANTEST T 5371 #9209763 を販売中
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ID: 9209763
Memory tester
SYSTEM CONFIGURATION GENERATE
CONFIGURATION OF TEST HEAD
PIN CONFIGURATION 1. 480DR+320I/O(HALF)
2. 768DR+512I/O(FULL)
3. 960DR+640I/O(FULL)
4. 240DR+160I/O(QUARTER) [1-4] ...> 3
NUMBER OF TEST HEAD [1,2] ...........................> 2
CONFIGURATION OF TEST HEAD 1
PE BOARD TYPE 0.NO BOARD
1.BGM-023206X04 (DR+IO PE,x2 AMP)
2.BGM-023206X05 (DR PE,x2 AMP)
PIN 1 13 25
CHILD A1 ....> 1 1 1
CHILD A3 ....> 1 1 1
CHILD B1 ....> 1 1 1
CHILD B3 ....> 1 1 1
CHILD C1 ....> 1 1 1
CHILD C3 ....> 1 1 1
CHILD D1 ....> 1 1 1
CHILD D3 ....> 1 1 1
CHILD E1 ....> 1 1 1
CHILD E3 ....> 1 1 1
CHILD F1 ....> 1 1 1
CHILD F3 ....> 1 1 1
CHILD G1 ....> 1 1 1
CHILD G3 ....> 1 1 1
CHILD H1 ....> 1 1 1
CHILD H3 ....> 1 1 1
CONFIGURATION OF TEST HEAD 2
PE BOARD TYPE 0.NO BOARD
1.BGM-023206X04 (DR+IO PE,x2 AMP)
2.BGM-023206X05 (DR PE,x2 AMP)
PIN 1 13 25
CHILD A1 ....> 1 1 1
CHILD A3 ....> 1 1 1
CHILD B1 ....> 1 1 1
CHILD B3 ....> 1 1 1
CHILD C1 ....> 1 1 1
CHILD C3 ....> 1 1 1
CHILD D1 ....> 1 1 1
CHILD D3 ....> 1 1 1
CHILD E1 ....> 1 1 1
CHILD E3 ....> 1 1 1
CHILD F1 ....> 1 1 1
CHILD F3 ....> 1 1 1
CHILD G1 ....> 1 1 1
CHILD G3 ....> 1 1 1
CHILD H1 ....> 1 1 1
CHILD H3 ....> 1 1 1
CONFIGURATION OF DPU
1'ST DPU : STN 1,2 [Y,N] ..........................> YES
TEST HEAD 1 DC CONFIGURATION [1-32] .............> 1-32
PPS CONFIGURATION [1-128] ............> 1-128
TEST HEAD 2 DC CONFIGURATION [1-32] .............> 1-32
PPS CONFIGURATION [1-128] ............> 1-128
AC FREQUENCY (Hz) [50,60] ........................> 50
CONFIGURATION OF FTU
FLASH OPTION [Y,N] ...........................> YES
CONFIGURATION OF FM
TYPE OF FM [1:NORMAL(AFM), 2:MRA4(FMRA)] ............> 1
NUMBER OF AFM BOARD [0-8] ............................> 0
PM(PATTERN MEMORY) BOARD EXIST [Y,N] .................> YES
SIZE OF PM BOARD [1:576M] ..........................> 1
END SAVE.
ADVANTEST T 5371は、幅広い最終製品のシステム固有のテスト機能を実行するように設計された最終試験装置です。この汎用性の高いユニットは、デバイスの特性評価と検証からボードレベルの機能および機能検証まで、すべてのテスト段階に適しています。多目的なADVANTEST T5371は容易な取付けを提供し、複数のテストアプリケーションで最終製品をテストすることを可能にします。モジュール式のオープンなハードウェアプラットフォームに基づいており、ハードウェアとソフトウェア技術のユニークな組み合わせを提供し、柔軟な再構成性を実現します。パラメトリックおよび機能テスト、静的および動的テスト、多重化およびターゲットテスト、エンジニアリングテスト構成など、さまざまなテストアプリケーション機能を提供します。ユニットのテスト管理ソフトウェアは、プログラミングを簡素化し、お客様が指定したテストを開発するように設計されています。直感的なグラフィカルユーザーインターフェイスを備えているため、ユーザーはユニットをすばやくカスタマイズしてテストモジュールを起動できます。T 5371には、ネイティブテストプログラムと高度なテストおよび分析ツールの豊富なライブラリも付属しています。T5371は強力なパターン生成/検査機能を備えており、マルチチャンネルテストカバレッジが可能です。CANやEthernetなどの通信プロトコルと、テストコントローラと機器間のデータ転送を提供します。高度なバック/ブースト機能と電源は、最終製品の効率的で最適な電力供給を保証するように設計されています。ADVANTEST T 5371は、高度な診断とデータロギングも提供し、マシンレベルのテスト検証を迅速かつ簡単に実現します。独自の診断ライブラリは、ナビゲートしやすいメニューを使用し、業界標準のフォーマットに基づいており、エラーコードを特定のハードウェアコンポーネントにマッチさせることができます。最後に、ユニットはまた、テストアプリケーションの広い範囲と互換性があります、診断とレポートソフトウェアが含まれています。このツールには包括的なドキュメントも含まれており、最終的なテスト機能のための簡単に実装可能で包括的なソリューションとなっています。
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