中古 ADVANTEST T 5371 #9190447 を販売中
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ID: 9190447
ウェーハサイズ: 12"
ヴィンテージ: 2010
Memory testers, 12"
SYSTEM CONFIGURATION GENERATE
CONFIGURATION OF TEST HEAD
PIN CONFIGURATION 1. 480DR+320I/O(HALF)
2. 768DR+512I/O(FULL)
3. 960DR+640I/O(FULL)
4. 240DR+160I/O(QUARTER) [1-4] ...> 3
NUMBER OF TEST HEAD [1,2] ...........................> 2
CONFIGURATION OF TEST HEAD 1
PE BOARD TYPE 0.NO BOARD
1.BGM-023206X04 (DR+IO PE,x2 AMP)
2.BGM-023206X05 (DR PE,x2 AMP)
PIN 1 13 25
CHILD A1 ....> 1 1 1
CHILD A3 ....> 1 1 1
CHILD B1 ....> 1 1 1
CHILD B3 ....> 1 1 1
CHILD C1 ....> 1 1 1
CHILD C3 ....> 1 1 1
CHILD D1 ....> 1 1 1
CHILD D3 ....> 1 1 1
CHILD E1 ....> 1 1 1
CHILD E3 ....> 1 1 1
CHILD F1 ....> 1 1 1
CHILD F3 ....> 1 1 1
CHILD G1 ....> 1 1 1
CHILD A1 ....> 1 1 1
CHILD A3 ....> 1 1 1
CHILD B1 ....> 1 1 1
CHILD B3 ....> 1 1 1
CHILD C1 ....> 1 1 1
CHILD C3 ....> 1 1 1
CHILD D1 ....> 1 1 1
CHILD D3 ....> 1 1 1
CHILD E1 ....> 1 1 1
CHILD E3 ....> 1 1 1
CHILD F1 ....> 1 1 1
CHILD F3 ....> 1 1 1
CHILD G1 ....> 1 1 1
CHILD G3 ....> 1 1 1
CHILD H1 ....> 1 1 1
CHILD H3 ....> 1 1 1
CONFIGURATION OF DPU
1'ST DPU : STN 1,2 [Y,N] ..........................> YES
TEST HEAD 1 DC CONFIGURATION [1-32] .............> 1-32
PPS CONFIGURATION [1-128] ............> 1-128
TEST HEAD 2 DC CONFIGURATION [1-32] .............> 1-32
PPS CONFIGURATION [1-128] ............> 1-128
AC FREQUENCY (Hz) [50,60] ........................> 60
CONFIGURATION OF FTU
FLASH OPTION [Y,N] ...........................> NO
CONFIGURATION OF FM
TYPE OF FM [1:NORMAL(AFM), 2:MRA4(FMRA)] ............> 2
NUMBER OF FMRA BOARD [0-8] ...........................> 8
SIZE OF FMRA BOARD [1:1G, 2:4G] ....................> 1
PM(PATTERN MEMORY) BOARD EXIST [Y,N] .................> YES
SIZE OF PM BOARD [1:576M] ..........................> 1
END SAVE
Include: Mother board
2010 vintage.
ADVANTEST T 5371は、幅広い半導体デバイスに適した、市場でテストされたトップクラスの最終試験装置です。完全に自動化され、使いやすく、信頼性が高く、費用対効果の高いソリューションであり、最終的なテスト要件に対応しているため、単一のデバイスで複数のテストを実行できます。これは、高速信号応答試験、高精度測定性能、効率的な資源利用能力を活用して実現します。ADVANTEST T5371には、モジュール構造と利用可能なカスタムマイクロコントローラ（CMC）の範囲があります。CMCは、最大4つの技術を並列に使用するための高速信号応答試験要件を満たすことを可能にします。CMCはまた、デジタル信号処理、信号制御機能、カスタマイズされた暗号化など、幅広いハイエンド機能を内蔵しています。信頼性の高い信号応答試験機能に加えて、T 5371は測定性能において非常に高いレベルの精度と再現性を提供します。T5371は、高精度の浮動小数点プロセッサ、非常に精密なアンプ、幅広い精密アナログ/デジタル・コンバータなど、さまざまなステップを利用しています。これらのコンポーネントは、高度に洗練された信号対ノイズおよび干渉抑制アルゴリズムと組み合わされているため、すべてのテスト周波数で非常に正確な測定が可能です。ADVANTEST T 5371には、包括的なリソース使用ツールが組み込まれており、テスト作業中にリソースを最も効率的に使用できます。ADVANTEST T5371には、マルチセッション操作、複数の製品操作、複数のテスト方法などの複数のテストモードが含まれており、ハードウェアおよびソフトウェアリソースを効率的に利用できます。さらに、さまざまなカスタマイズオプションもサポートしており、ユーザーは製品ごとに独自のオートメーションプロセスを設計することができます。継続的な高品質の試験結果を保証するために、T 5371には高度な耐障害監視機が装備されています。このツールは、資産がパフォーマンス目標を満たしていない場合、またはメンテナンスが必要な場合にユーザーを検出、監視、警告するように設計されています。T5371は、市場をリードする最終テストモデルであり、ユーザーにテストニーズに効果的で費用対効果の高いソリューションを提供します。これは信頼性が高く、使いやすく、高精度な装置であり、幅広い半導体デバイス試験で優れた結果をもたらすことが証明されています。
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