中古 ADVANTEST T 5371 #9173456 を販売中
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ID: 9173456
ヴィンテージ: 2001
Memory testers
SYSTEM CONFIGURATION GENERATE
CONFIGURATION OF TEST HEAD
PIN CONFIGURATION 1. 480DR+320I/O(HALF)
2. 768DR+512I/O(FULL)
3. 960DR+640I/O(FULL)
4. 240DR+160I/O(QUARTER) [1-4] ...> 3
NUMBER OF TEST HEAD [1,2] ...........................> 2
CONFIGURATION OF TEST HEAD 1
PE BOARD TYPE 0.NO BOARD
1.BGM-023206X04 (DR+IO PE,x2 AMP)
2.BGM-023206X05 (DR PE,x2 AMP)
PIN 1 13 25
CHILD A1 ....> 1 1 1
CHILD A3 ....> 1 1 1
CHILD B1 ....> 1 1 1
CHILD B3 ....> 1 1 1
CHILD C1 ....> 1 1 1
CHILD C3 ....> 1 1 1
CHILD D1 ....> 1 1 1
CHILD D3 ....> 1 1 1
CHILD E1 ....> 1 1 1
CHILD E3 ....> 1 1 1
CHILD F1 ....> 1 1 1
CHILD F3 ....> 1 1 1
CHILD G1 ....> 1 1 1
CHILD A1 ....> 1 1 1
CHILD A3 ....> 1 1 1
CHILD B1 ....> 1 1 1
CHILD B3 ....> 1 1 1
CHILD C1 ....> 1 1 1
CHILD C3 ....> 1 1 1
CHILD D1 ....> 1 1 1
CHILD D3 ....> 1 1 1
CHILD E1 ....> 1 1 1
CHILD E3 ....> 1 1 1
CHILD F1 ....> 1 1 1
CHILD F3 ....> 1 1 1
CHILD G1 ....> 1 1 1
CHILD G3 ....> 1 1 1
CHILD H1 ....> 1 1 1
CHILD H3 ....> 1 1 1
CONFIGURATION OF DPU
1'ST DPU : STN 1,2 [Y,N] ..........................> YES
TEST HEAD 1 DC CONFIGURATION [1-32] .............> 1-32
PPS CONFIGURATION [1-128] ............> 1-128
TEST HEAD 2 DC CONFIGURATION [1-32] .............> 1-32
PPS CONFIGURATION [1-128] ............> 1-128
AC FREQUENCY (Hz) [50,60] ........................> 60
CONFIGURATION OF FTU
FLASH OPTION [Y,N] ...........................> NO
CONFIGURATION OF FM
TYPE OF FM [1:NORMAL(AFM), 2:MRA4(FMRA)] ............> 2
NUMBER OF FMRA BOARD [0-8] ...........................> 8
SIZE OF FMRA BOARD [1:1G, 2:4G] ....................> 1
PM(PATTERN MEMORY) BOARD EXIST [Y,N] .................> YES
SIZE OF PM BOARD [1:576M] ..........................> 1
END SAVE
2001 vintage.
ADVANTEST T 5371は、主にデバイスの特性評価とテストに使用される最終試験装置です。このシステムは、デバイスDC測定、アナログ/デジタルテスト、デバイスモデリング、歩留まり解析、故障解析などのテストパラメータのスペクトルをカバーするさまざまな測定を提供します。ADVANTEST T5371ユニットの特長は、アナログおよびデジタル機器の特性評価のための測定ツールと技術のスイートを提供する高度なデバイス分析モジュールが含まれています。パターン認識、パルス応答、スルーレート制御、スペクトル解析、アイダイアグラム測定、自動ビットエラーレート試験など、さまざまなツールを使用して幅広いデバイス機能をテストおよび検証できます。このマシンはまた、ショート、開閉、電圧不規則性、およびIRドロップなどのデバイス障害を検出、特性評価、および絶縁するために使用される包括的な故障解析モジュールを備えています。これにより、ユーザーはデバイスの障害を迅速かつ効果的に調査、診断、および修正することができます。さらに、このツールは強力なデバイスモデリングモジュールを提供し、ユーザーはテスト中のデバイスの動作を分析し、デバイスの設計と相対的な性能に関する重要な情報を提供することができます。これは、ユーザーが詳細な測定を実行する前に問題領域をすばやく特定できるため、故障解析タスクに特に役立ちます。T 5371には、試験結果を分析し、デバイスの歩留まりに関する詳細情報を提供するために使用される歩留まり解析モジュールも含まれています。これには、イールドトレンド、Go/No-Goテスト結果、およびピークパフォーマンスメトリックに関するデータが含まれます。これらの指標を使用すると、歩留まりの問題を正確に特定して対処でき、デバイス全体の品質を向上させることができます。最後に、T5371は柔軟性の高い資産であり、拡張可能なアーキテクチャを備えており、ユーザーは特定の要件を満たすためにモデルを簡単に統合および拡張することができます。これには、機器やアクセサリを追加または削除したり、機器のメモリとパフォーマンス機能を拡張する機能が含まれます。さらに、このシステムは、Windows、 Linux、およびMacOS用のソフトウェアサポートを提供しており、ユーザーはほぼすべてのプラットフォームからユニットにアクセスして制御することができます。ADVANTEST T 5371は包括的でモジュール式で拡張性の高い最終試験機で、あらゆるデバイスの特性評価とテストのニーズに合わせて、効率的で信頼性が高く費用対効果の高いソリューションをユーザーに提供するよう設計されています。このツールは、測定機能と機能の広い範囲だけでなく、比類のない柔軟性と使いやすさを提供し、さまざまなアプリケーションに最適です。
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