中古 ADVANTEST T 5371 #9123475 を販売中
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ID: 9123475
Tester
Pogo tower M/B
SYSTEM CONFIGURATION GENERATE
CONFIGURATION OF TEST HEAD
PIN CONFIGURATION 1. 480DR+320I/O(HALF)
2. 768DR+512I/O(FULL)
3. 960DR+640I/O(FULL)
4. 240DR+160I/O(QUARTER) [1-4] ...> 3
NUMBER OF TEST HEAD [1,2] ...........................> 2
CONFIGURATION OF TEST HEAD 1
PE BOARD TYPE 0.NO BOARD
1.BGM-023206X04 (DR+IO PE,x2 AMP)
2.BGM-023206X05 (DR PE,x2 AMP)
PIN 1 13 25
CHILD A1 ....> 1 1 1
CHILD A3 ....> 1 1 1
CHILD B1 ....> 1 1 1
CHILD B3 ....> 1 1 1
CHILD C1 ....> 1 1 1
CHILD C3 ....> 1 1 1
CHILD D1 ....> 1 1 1
CHILD D3 ....> 1 1 1
CHILD E1 ....> 1 1 1
CHILD E3 ....> 1 1 1
CHILD F1 ....> 1 1 1
CHILD F3 ....> 1 1 1
CHILD G1 ....> 1 1 1
CHILD G3 ....> 1 1 1
CHILD H1 ....> 1 1 1
CHILD H3 ....> 1 1 1
CONFIGURATION OF TEST HEAD 2
PE BOARD TYPE 0.NO BOARD
1.BGM-023206X04 (DR+IO PE,x2 AMP)
2.BGM-023206X05 (DR PE,x2 AMP)
PIN 1 13 25
CHILD A1 ....> 1 1 1
CHILD A3 ....> 1 1 1
CHILD B1 ....> 1 1 1
CHILD B3 ....> 1 1 1
CHILD C1 ....> 1 1 1
CHILD C3 ....> 1 1 1
CHILD D1 ....> 1 1 1
CHILD D3 ....> 1 1 1
CHILD E1 ....> 1 1 1
CHILD E3 ....> 1 1 1
CHILD F1 ....> 1 1 1
CHILD F3 ....> 1 1 1
CHILD G1 ....> 1 1 1
CHILD G3 ....> 1 1 1
CHILD H1 ....> 1 1 1
CHILD H3 ....> 1 1 1
CONFIGURATION OF DPU
1'ST DPU : STN 1,2 [Y,N] ..........................> YES
TEST HEAD 1 DC CONFIGURATION [1-32] .............> 1-32
PPS CONFIGURATION [1-128] ............> 1-128
TEST HEAD 2 DC CONFIGURATION [1-32] .............> 1-32
PPS CONFIGURATION [1-128] ............> 1-128
AC FREQUENCY (Hz) [50,60] ........................> 60
CONFIGURATION OF FTU
FLASH OPTION [Y,N] ...........................> YES
CONFIGURATION OF FM
TYPE OF FM [1:NORMAL(AFM), 2:MRA4(FMRA)] ............> 2
NUMBER OF FMRA BOARD [0-8] ...........................> 8
PM(PATTERN MEMORY) BOARD EXIST [Y,N] .................> YES.
ADVANTEST T 5371の最終試験装置は可能な最も信頼でき、費用効果が大きい方法の試験装置のために設計されている生産の等級のテスターです。このシステムは、ユーザーがさまざまなシナリオでデバイスのパフォーマンスを迅速かつ正確に評価できるようにするために設計されており、生産プロセスの品質と歩留まりを最大化するのに適しています。ADVANTEST T5371はモジュール設計を特色にし、各顧客の必要性を満たすために容易にカスタマイズされます。適応可能なテストチャネルのセットにより、非常に柔軟な3または4線構成でテストを最適化できます。プログラム可能なセットアップにより、さまざまなデバイスを迅速かつ簡単にテストすることができ、追加の試験治具やカスタム部品の必要性を最小限に抑えます。テストユニットには、テストプロセスを高速化するように設計された高速テストバスも装備されています。この機械は8 μ s/pointまでの速度ですばやく動作チェック、テスト、および測定をプリフォームすることができます。さらに、このツールは、アナログIC、 MOS、トランジスタ、およびデジタルインターデバイスを含む多くのデバイスタイプをサポートしています。T 5371のその他の機能には、標準テスト、テストプログラム、プログラムライブラリの包括的なライブラリ、分散テストのためのさまざまなオプション、および簡単な操作と検証のために特別に設計されたオールインワンユーザーインターフェイスが含まれます。エラー検出と診断機能も提供され、ユーザーはテストエラーをすばやく特定して修正することができます。T5371は信頼性が高く強力なテストアセットであり、デバイスのパフォーマンスを迅速かつ正確に評価するための包括的なツールをユーザーに提供します。効率的なモジュール設計、高速テストバス、エラー検出機能により、デバイス生産の品質を確保しながら生産性と歩留まりを最大化する理想的なソリューションです。
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