中古 ADVANTEST T 5371 #293642666 を販売中

ADVANTEST T 5371は半導体製品の最終試験用に設計されたハイエンド試験装置です。このシステムは、強力な自動テストユニットを使用して、デバイスの特性評価、タイミング、メモリ特性評価、パラメトリック測定などのさまざまなパラメータをテストします。このユニットは、集積回路、メモリ製品、ロジックIC、 マイクロプロセッサIC、 RF製品などの製品のテストに適しています。このマシンは、高度なテストアルゴリズムと高速テストコントローラを使用して、幅広いデバイスのデバイス特性を正確に測定します。このツールは、2.0Vから8.0Vまでのさまざまな電圧レベルでテストすることができ、EXSO、 PXSO、 CP2、 CP3などのさまざまな種類の接点で使用することができます。このアセットには、エアーフロー抑制技術も装備されており、試験実行中に均一なエアーフローを提供します。このモデルは高度な並列テスト用に設計されており、複数のプローブが複数のデバイスを同時にテストできるようになっています。この機能により、各デバイスのテスト時間を短縮することで、高スループットを実現します。この装置は自動マルチデバイスプログラミングも備えており、複数のデバイスタイプを同時にテストすることができます。このシステムには、DRC （Design Rule Checking）やTest Generation （TG）などの強力なDFT （Design for Testability）解析ツールが含まれています。これらのツールは、迅速な回路診断を可能にし、設計のテスト可能性の迅速な検証と検証を提供します。このユニットには強力なFailure Analysis （FA）ツールも含まれており、複数の障害を追跡できます。この機能により、エンジニアは故障経路をすばやく見つけてトラブルシューティングすることができ、デバッグサイクルの納期を短縮できます。マシンオートメーションのために、ADVANTEST T5371は、さまざまなテストパターンへの関連パラメータの注入、テストピンマップの生成、ハイスループット生産テストのためのテストパターンの最適化を可能にする自動構成ソフトウェアを提供します。T 5371は最先端の最終テストツールで、幅広いデバイスの生産テストに汎用性の高いハイスループットソリューションを提供します。その強力なテストアルゴリズム、エアフロー抑制技術、高度なDFTおよびFA解析ツール、および自動構成ソフトウェアにより、一貫した正確で信頼性の高い結果が保証されます。