中古 ADVANTEST T 5365P #9179770 を販売中

ADVANTEST T 5365P
ファイナルテスト
製造業者
ADVANTEST
モデル
T 5365P
ID: 9179770
Tester mainframe Boards: DPU Name P/N IFL BGR-016793 IFA BGR-016794 DCL BGR-016797 DC BGR-019486 DC - DCL BGR-016797 DC BGR-019486 DC - DCL BGR-016797 DC BGR-019486 DC - DCL BGR-016797 DC BGR-019486 DC - PSL BGR-016795 PS BGR-016796 PS BGR-016796 PS - PS - PSL BGR-016795 PS BGR-016796 PS BGR-016796 PS - PS - 16V - 16V - HVL BGR-017417 HV BGR-017418 HV - SCU Name P/N SC BGR-018840 SC BGR-018840 SC BGR-018840 SC BGR-018840 DDIST BGR-018839 DDIST BGR-018839 SDIST BGR-018838 DDIST BGR-018839 DDIST BGR-018839 SC - SC - SC - SC - PCPE - PCPE - IF BGR-018842 VOO Name P/N IOVD BGR-018837 IOVD BGR-018837 IOVD BGR-018839 IOVD BGR-018837 DRVD BGR-018836 DRVD BGR-018836 DRVD BGR-018836 DRVD BGR-018836 Main: PG/FM Name P/N PGIF BGR-018197 PFCON BGR-018198 PC BGR-018199 AGEN BGR-018200 DGEN BGR-018201 SCR BGR-018390 AGEN - DGEN - SCR - DIST BGR-018203 AMUX BGR-019378 DMUX BGR-019379 DMUX BGR-019379 MMUX BGR-019380 VCONT - VMEM - VFORM - DFM BGR-019383 DFM BGR-019383 ASEL BGR-019381 ASEL - ADLY BGR-019382 ADLY BGR-019382 FMCON BGR-018207 PM - AFM BGR-019384 AFM BGR-019384 AFM BGR-019384 AFM BGR-019384 AFM - AFM - AFM - AFM - TERM BGR-018629 TOPC Name P/N TGIF BGR-015554 TH/IF BGR-018125 MDA 6104420X05 TGCNT BIR-013610 RATE BGR-014633/BIR-015398 DELAY BGR-015470 CLK BGR-015466X02 CLK BGR-015466X02 STRCNT BGR-015467X02 DELAY BGR-015470 CLK BGR-015466X02 PDS1 BGR-018834 PDS2 BGR-018834 FC1 BGR-015839 FC2 BGR-015839 FC3 BGR-015839 FC4 BGR-015839 FC5 BGR-015839 FTUIF BGR-018841 VIO Name P/N IOVIO - IOVIO - IOVIO - IOVIO - ANA - DRVIO - DRVIO - ANA - IOVIO BGR-018824 IOVIO BGR-018824 IOVIO BGR-018824 IOVIO BGR-018824 ANA BGR-018822 DRVIO BGR-018823 DRVIO BGR-018823 ANA BGR-018822 LOG BGR-018821.
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ADVANTEST T 5365P Final Test Equipmentは、デバイスあたりの歩留まり、品質、コストの厳しい要求に応えるように設計された高効率の半自動製造テスターです。大量の生産設定に最適なT 5365Pは、生産環境に必要な包括的なテスト機能とステーションの柔軟性を提供します。このシステムはPCマザーボードアーキテクチャに基づいており、信頼性と高速なパフォーマンスを確保するためにCore 2 Duoプロセッサを搭載しています。ADVANTEST T 5365Pは、4つのデジタルI/Oチャネルをサポートし、スループットと高精度を向上させ、マルチライン機能テストのパフォーマンスを実現します。そのマルチライン機能は、高度なデジタルパターンジェネレータとオプションの内部スイッチマトリックスを備えたシングルエンド/差動コンパレータとマルチプレクサを使用することによって可能になります。その工具細工の単位はテストデバイスの急速なローディングおよび荷を下すことを可能にする独自のT接触器TMを含んでいます。また、デバイスを非同期にテストできるようにすることで、長いキュー時間を可能にします。これにより、治具の再設定の必要性が低減され、全体的な試験効率が向上します。T 5365Pは、熱放散とコンタミネーションフリー（CF）機能を内蔵して設計されています。試験時間中に熱エネルギーを放散する能力は、再作業の頻度を減らし、チップ間の迅速な切り替えを可能にします。さらに、CF対応の機能を使用して、チップの汚染や損傷を防ぐことができます。このマシンは、グラフィカルユーザーインターフェイス（GUI）と自動プログラミング環境（APE）を使用して、高速で簡単で費用対効果の高いテストソリューションをプログラムします。これは、ツールメモリに直接テストベクトルを格納し、複雑な設計のトラブルシューティングにエンジニアを支援する機能豊富なデバッグ豪華さを提供します。ADVANTEST T 5365Pには、広範な診断および統計解析ソフトウェアが含まれており、ユーザーはデバイスのパフォーマンスを詳細に分析することができます。この資産は、ログ分析とさまざまな統計形式で結果を報告することができます。T 5365P最終的なテストモデルは速く、信頼できるテストソリューションを捜すテストエンジニアおよびオペレータのための理想的なプラットホームです。包括的な機能、高度な診断機能、構成可能なテストオプションにより、あらゆる本番テストのニーズに最適なソリューションです。
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