中古 ADVANTEST T 5365P #42505 を販売中
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ID: 42505
ヴィンテージ: 1996
Memory test system, 60 MHz
(Qty 2) test head
Power: 50 Hz
(Qty 8) FM board
Size of FM board: 576M
Test head type: 1.650CH, 2.1300CH [1,2]
Pin configuration, slot no. [30,97,41,105]
Child A: 33,41,97,105
Child B: 33,41,97,105
Child C: 33,41,97,105
Child D: 33,41,97,105
Configuration of DPU
1’st DPU: STN 1,2: Yes
2’nd DPU: STN 1,2: No
Test head 1
DC config: 1-9
10V PPS config: 1-16
Test head 2
DC config: 1-8
10VPPS config: 1-16
1’st GPIB I/F board
0. None
1. BGR-0106944x01
2. BGR-0106944x02
3. BGR-0106944x03
4. BGR-0106944x04
5. BGK-012718 [0-5] 0
2’nd GPIB I/F Board
0. None
1. BGR-016793 (DPU I/F)
2. BGR-010944x05
3. BGK-012718X02 [0-3] 1
DMM Type
TR6861
R6871E
R6551
R6552T [1-4] 3
Powered down
Warehoused
1996 vintage.
ADVANTEST T 5365P Final Test Equipmentは、半導体デバイスをテストするための強力な自動化ツールです。このシステムは、カットエッジ技術を使用して、正確で一貫したテストを保証します。最終テストユニットは高度なセンシングとテストプラットフォームで構築されており、高度な自動機能を使用してデバイスのテストプロセスを高速化します。機械は非常に高速でテストされる装置から来る信号を監視し、分析することができる最先端のベクトル一致の技術が装備されています。これにより、より正確で信頼性の高いテストが可能になります。このツールには、マルチチャネル、マルチサイトテスタプラットフォームが装備されており、複数のデバイスを一度にテストしたり、複雑なデバイスをテストしたりすることができます。アセットはモジュラー構造で設計されており、複数のテスターを一度に最大8台まで接続でき、スループットが向上し、モデルのテストカバレッジが拡張されます。高度なプラットフォームと操作は、並列およびシリアルテストアプリケーションでテスターを従事させることができ、テスト機能を大幅に向上させます。また、複数のデータ通信インタフェースを備えており、USB、イーサネット、光ファイバなどのさまざまな通信や上流メディア、オシロスコープ、レーザー干渉計などのテストラボ機器との下流通信をサポートしています。これにより、効率的で柔軟な操作が可能になります。T 5365P Final Test Systemには、障害解析の最適化も装備されています。これにより、リアルタイムで監視されているテスト結果、測定の詳細、操作ログを参照することで、より迅速な障害の識別と分析が可能になります。最新の画像処理とデータ分析を活用して、精度と信頼性を向上させ、テスト結果の統計値も提供します。このユニットは、機能テストやICバーンインなどのさまざまな試験プロセスにも対応できます。テスト設計と実行プロセスは、最新のグラフィカルユーザーインターフェイスの助けを借りて直感的かつ合理化されているため、自動生産テストと完全な機械テストに適しています。このツールは、マルチサイト、統一された境界スキャン、パラメトリック、およびロジックなどのさまざまなタイプのデバイスをテストするだけでなく、マイクロアンプまで、超低電力でデバイスをテストすることができます。全体的にADVANTEST T 5365P Final Test Assetは、高度で正確で信頼性の高いデバイス試験モデルで、製品テストや自動生産テストに最適です。最新のセンシングおよびテスト技術、強力なマルチチャネル、マルチサイトテスタープラットフォーム、柔軟なデータおよび通信インターフェイス、障害解析最適化、および最新のグラフィカルユーザーインターフェイスにより、最も野心的な製品テストアプリケーションのための強力なツールです。
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