中古 ADVANTEST T 5365 #162878 を販売中
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ID: 162878
Memory test system
Configuration:
SYSTEM CONFIGURATION LIST
SYSTEM IDENTIFICATION
CONFIGURATION OF TEST HEAD
NUMBER OF TEST HEAD [1,2] ...........................> 2
CONFIGURATION OF TEST HEAD 1
TEST HEAD TYPE 1.650CH
2.1300CH [1,2] .....................> 2
PIN CONFIGURATION SLOT NO. [33,97,41,105]
CHILD A ....> 33,41,97,105
CHILD B ....> 33,41,97,105
CHILD C ....> 33,41,97,105
CHILD D ....> 33,41,97,105
CHILD E ....> 33,41,97,105
CHILD F ....> 33,41,97,105
CHILD G ....> 33,41,97,105
CHILD H ....> 33,41,97,105
PIN CONFIGURATION OPTION1 PIN CARD? [Y,N]
CHILD A ....> NO
CHILD B ....> NO
CHILD C ....> NO
CHILD D ....> NO
CHILD E ....> NO
CHILD F ....> NO
CHILD G ....> NO
CHILD H ....> NO
PIN CONFIGURATION OPTION2 PIN CARD? [Y,N]
CHILD AB ...> NO
CHILD CD ...> NO
CHILD EF ...> NO
CHILD GH ...> NO
CONFIGURATION OF TEST HEAD 2
TEST HEAD TYPE 1.650CH
2.1300CH [1,2] .....................> 2
PIN CONFIGURATION SLOT NO. [33,97,41,105]
CHILD A ....> 33,41,97,105
CHILD B ....> 33,41,97,105
CHILD C ....> 33,41,97,105
CHILD D ....> 33,41,97,105
CHILD E ....> 33,41,97,105
CHILD F ....> 33,41,97,105
CHILD G ....> 33,41,97,105
CHILD H ....> 33,41,97,105
PIN CONFIGURATION OPTION1 PIN CARD? [Y,N]
CHILD A ....> NO
CHILD B ....> NO
CHILD C ....> NO
CHILD D ....> NO
CHILD E ....> NO
CHILD F ....> NO
CHILD G ....> NO
CHILD H ....> NO
PIN CONFIGURATION OPTION2 PIN CARD [Y,N]
CHILD AB ...> No
CHILD CD ...> No
CHILD EF ...> No
CHILD GH ...> No
CONFIGURATION OF DPU
1'ST DPU : STN 1,2 [Y,N] ..........................> YES
2'ND DPU : STN 1,2 [Y,N] ..........................> NO
TEST HEAD 1 DC CONFIGURATION [1-16] .............> 1-16
10V PPS CONFIGURATION [1-32] .............> 1-32
HV PPS CONFIGURATION [1-4] .............>
TEST HEAD 2 DC CONFIGURATION [1-16] .............> 1-16
10V PPS CONFIGURATION [1-32] .............> 1-32
HV PPS CONFIGURATION [1-4] .............>
1'ST GPIB I/F BOARD 0.NONE
1.BGR-010944X01
2.BGR-010944X02
3.BGR-010944X03
4.BGR-010944X04
5.BGK-012718 [0-5] .........> 0
2'ND GPIB I/F BOARD 0.NONE
1.BGR-016793 (DPU I/F)
2.BGR-010944X05
3.BGK-012718X02 [0-3] .........> 1
DMM TYPE 1.TR6861
2.R6871E
3.R6551 [1-3] .........> 3
AC FREQUENCY (HELTZ) [50,60] ........................> 50
CONFIGURATION OF TG
OPTION CLOCK : 48 EDGES [Y,N] .......................> NO
CONFIGURATION OF ALPG
SUB PG [Y,N] ....................................> NO
CONFIGURATION OF FM
NUMBER OF FM BOARD [0-8] ...........................> 0
PATTERN MEMORY [Y,N] ................................> NO
CONFIGURATION OF VRAM
VRAM3 OPTION [Y,N] ...........................> NO
CONFIGURATION OF FCDC
PIN CPE SEL [Y,N] ...........................> NO.
ADVANTEST T 5365は、半導体試験業界のリーダーであるADVANTEST Corporationの最終試験装置です。このシステムは、集積回路の動作特性をテストおよび検証するために設計されています。このユニットは、最高試験速度が25MHz、最小サイクルタイムが100マイクロ秒の高速、高速カウント試験機です。複数のデバイスを同時にテストし、1時間あたり最大160万ピンをテストでき、手動、半自動、または全自動モードで動作できます。ADVANTESTのT5365はさまざまなテストアプリケーションのためにカスタマイズすることができる2つのテストヘッドが装備されています。それにテストのための高速、正確なタイミング信号を提供する統合されたパルス発電機ボードがあります。また、大型の液晶モニターを搭載し、試験や性能のモニタリングが容易です。テスターには、近距離デバイスや制御システムと統合するための統合されたデジタル接続ツールがあります。テスターは、IEEE-488またはイーサネットを介して外部システムとの通信のために、高速データ転送またはリモート制御アプリケーションのために構成することができます。テスト環境には、デバイスの高性能テストを可能にするモジュラー型のすぐにテストできるボードが含まれています。このアセットには、高速で高密度なアプリケーションでエラーを検出および報告できる自動障害診断機能も含まれています。T 5365モデルは安全機能を内蔵して設計されており、最も厳しい環境での使用に最適です。電源とデータラインは高性能のサージ保護とESD保護で保護され、入出力チャネルは過剰な保護で保護されます。装置のハードウェア部品は衝撃、振動、および温度の極端を許容するように設計されており、生産ラインの使用に適しています。全体的T5365、最終テストシステムは、さまざまな業界の集積回路の高精度テストと検証のために設計されています。高速試験速度、高密度ピンカウント、自動故障検出および診断機能、幅広い安全機能を備えているため、工業生産ライン試験に適した信頼性の高い高性能ユニットです。
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