中古 ADVANTEST T 5335P #9311759 を販売中

ADVANTEST T 5335Pは、半導体デバイスに高品質で費用対効果の高い試験および測定ソリューションを提供するために設計された最先端の最終試験プラットフォームです。ADVANTEST T5335Pは、モジュラーアーキテクチャと一連のソフトウェアおよびハードウェアソリューションを使用して、幅広い半導体製品の包括的なテストおよび評価サービスを提供します。専用の試験装置と強力なテストソフトウェアの助けを借りて、T 5335 Pは既存および新興の半導体技術をテストすることができ、生産試験および信頼性試験に最適なソリューションです。T 5335Pは、最大2,000のテストピンをサポートし、毎秒4,500のテストを駆動するCTT-8300テストセルを使用しています。このテストセルは、自動装置プロービング、34ピンフローティングアクティブプローブ、-30°C〜+125°Cの温度範囲などの多くの機能も提供します。さらに、T5335Pには、信号発生器、デジタルボルトメータ、電源、パラメトリック測定などの統合されたテストリソースも含まれています。ADVANTEST T 5335 Pはオープンアーキテクチャで設計されており、カスタムおよびサードパーティのテストソフトウェアおよびハードウェアソリューションの統合をサポートしています。このソフトウェア定義テストソリューションは、時間および周波数ドメイン測定、電流経路および漏れ試験、スイッチング波形測定、ノイズ解析など、幅広いテストアルゴリズムを使用することができます。ADVANTEST T 5335Pは、オペレータやテストエンジニアにとって使いやすく直感的に設計されています。テスト結果を記録するデータロガー、SDカードスロット、プログラマブルタイマー、レシピエディタなどの組み込み機能が含まれています。また、Webベースのグラフィカルユーザーインターフェイスを提供し、テストエンジニアが独自のテストプログラムとセットアップを簡単に作成できます。テスト結果の信頼性を確保するために、ADVANTEST T5335Pはリアルタイム監視システムを使用してエラーを検出し、テスト失敗の原因を特定します。試験治具やテストソフトウェアなど、試験環境のエラーをチェック・修正し、温度や湿度などの環境パラメータを検出するシステムです。T 5335 Pは、半導体デバイスの生産試験および信頼性試験のための信頼性の高い、費用対効果の高い試験および測定ソリューションです。その強力なテストセル、オープンアーキテクチャ、直感的なユーザーインターフェイスは、最終的なテストアプリケーションに包括的なソリューションを提供します。