中古 ADVANTEST T 5335P #9311756 を販売中
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ID: 9311756
ヴィンテージ: 1995
Memory tester
Temperature range: 150°C
Tester processor: TP4
OS Rev:
ASX/U-50: 6.04-1
SunOS Release 5.5.1 ASXUBASE: 2.02
DIAG5335SU (Tester diagnosis): 6.03G
TH1: 650
OP1 Pin card
OP2 Pin card
TH2: 650
OP1 Pin card
OP2 Pin card
DPU: TH1
DC: 1-8
10V PPS: 1-16
HV PPS: 1-4
TH2:
DC: 1-8
10V PPS: 1-16
HV PPS: 1-4
FM: 144 M
(2) FM Boards
Size of FM module: 8 M
Memory bank
(4) Memory blocks
No patten memory
BGR-020816X02 FM Board
MRA:
MRA Option: MRA2
Type of CBU board: BGR-019267
(2) CBU Boards
Type of FBM board: 2 M, 72 Bit
(4) FBM Boards
No compression function
FCDC:
Flash option
BGR-020774 SC Board
1995 vintage.
ADVANTEST T 5335Pは、エレクトロニクス業界で使用されるデバイスの高速、高精度試験のために開発された完全統合された最終試験装置です。このシステムはさまざまな機能と利点を提供し、迅速で信頼性が高く、コスト効率の高いテストを実現します。このユニットは、汎用性の高いアクティブプロービングマシンと、テストを必要とするさまざまなデバイスを同時に処理できる自動ハンドラを備えています。堅牢なソフトウェアは、ファームウェアとハードウェア開発のためのプラットフォームとして機能し、さまざまなテストのニーズに合わせてソフトウェアを簡単にカスタマイズできます。このプラットフォームは、デバイスの高精度、高速テスト用に設計されており、実際のデバイス性能のより良い診断と特性評価のためのスマートな機能が強化されています。このツールの高度なアクティブプローブ選択アルゴリズムは、デバイスからの信号の正確で信頼性の高いキャプチャを保証し、並列テストパラメータ選択機能によりテストを高速化します。アセットのプロービングヘッドには、必要に応じて特定のデバイスやテスト要件に合わせてカスタマイズできる幅広いプローブセンサーが用意されています。さらに、モデルのリアルタイムシャットオフ機能により、予期しないイベントによるテストの失敗を防止します。また、STIL、 C-programs、 VN-Lint、 ATE-V、 TestLinxなどの業界標準のテスト言語もサポートしており、ソフトウェア統合が容易です。さらに、ユーザーフレンドリーなグラフィックユーザーインターフェイスにより、既存のテストプログラムからテストデータをスムーズに移行できます。エレクトロニクス業界の新たなニーズをサポートするために、ADVANTEST T5335Pは高度にアップグレード可能であり、ユーザーは簡単に機能を追加してシステム機能を強化することができます。また、包括的な機械監視および診断サポートツールを備えており、資産の精度を維持し、テストスループットを向上させ、モデルコストを低く抑えることができます。T 5335 Pは、自動車、家電、通信、データストレージデバイス向けに製造されたチップ用の理想的なテストソリューションです。また、産業用、医療用、軍事用の試験装置にも広く採用されています。優れた性能とユーザーフレンドリーな機能により、デバイスのテストの精度と効率を大幅に向上させることができます。
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