中古 ADVANTEST T 5335P #9311754 を販売中

ADVANTEST T 5335Pは、半導体業界の幅広い高信頼性デバイス向けの汎用性の高い多機能ソリューションです。複雑な条件下でのデバイス試験において、複数の測定パラメータの柔軟性と高精度なテストを提供します。ADVANTEST T5335Pは、ADVANTEST第5世代R500メインフレームをベースにしたテストシステムで、従来モデルよりも高速なI/Oと高いスループットを実現しています。ADVANTEST統合ソフトウェアスイートは、直感的なメニュー駆動、多言語操作により、包括的なテスト機能とメンテナンスオプションを提供します。T 5335 Pは、多種多様なアプリケーションに対応するフル機能のデジタルテストソリューションを提供します。モジュラーユニットで、さまざまなプラグインボードや治具を使用してテスト要件をカスタマイズできます。オンボードロジックチャネルとオシロスコープ、電源、カウンタ/タイマーなどの外部テストインストゥルメントがサポートされています。付属の3Dフォースセンシングは、既存のテストシステムに統合され、自動的なフォース制御テストを提供し、ProBER™のテストマシン統合は、お客様のプロセス要件の境界にさらにテストを拡張します。T 5335Pは、非常に複雑な半導体デバイスの製品開発および故障解析用に設計されています。最大4GHzの高速動作ニーズに対応し、幅広い波形、パルス構造、測定機能を提供します。このツールは完全な自動チューニング機能で構成されており、テストされたデバイスごとにテスト設定をすばやく最適化できます。高度な高度なテストアルゴリズムにより、生産テストの再現性とテスト精度を最大化することに重点を置いています。さらに、加速サーマルサイクリングなどの機能も組み込まれており、高温感受性デバイスのスクリーニングを改善しています。ADVANTEST T 5335 Pには、自動測定シフト補正用の専用プログラムも付属しており、精度の向上と洗練された感度制御を可能にします。これにより、手動校正の繰り返しの必要性が低減され、すべての統合された機器の測定の一貫性が向上します。さらに、強力なマシンビジョンモデルが組み込まれているため、検査とフォルトローカライズが容易になり、プロセス全体の効率が向上します。T5335Pは、複雑な半導体デバイスの合理的な生産試験を可能にする信頼性の高い効率的な最終試験装置です。多種多様なテストアプリケーションで高性能と高精度を保証する強力で汎用性の高いツールです。高度なテストアルゴリズムとマシンビジョン機能を統合したこのシステムは、生産プロセス全体にわたって再現可能な結果をもたらす包括的なエンドツーエンドのテストソリューションを提供します。