中古 ADVANTEST T 5335P #9311753 を販売中
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ID: 9311753
ヴィンテージ: 1996
Memory tester
Temperature range: 150°C
Tester processor: TP4
OS Rev:
ASX/U-50: 6.04-1
SunOS Release 5.5.1 ASXUBASE: 2.02
DIAG5335SU (Tester diagnosis): 6.03G
TH1: 650
OP1 Pin card
OP2 Pin card
TH2: 650
OP1 Pin card
OP2 Pin card
DPU: TH1
DC: 1-8
10V PPS: 1-16
HV PPS: 1-4
TH2:
DC: 1-8
10V PPS: 1-16
HV PPS: 1-4
FM: 144 M
(2) FM Boards
Size of FM module: 1 M
Memory bank
(4) Memory blocks
No patten memory
BGR-020816 FM Board
MRA:
MRA Option: MRA2
Type of CBU board: BGR-019267
(2) CBU Boards
Type of FBM board: 2 M, 72 Bit
(4) FBM Boards
No compression function
FCDC:
Flash option
BGR-020774 SC Board
1996 vintage.
ADVANTEST T 5335P Final Test Equipmentは、ハイエンド電子デバイスのテストに必要な要件を満たすように設計された強力なツールです。このシステムは、さまざまな半導体、RF、およびデジタルデバイスで包括的な電気試験を行うことができます。このユニットは、CAM (Computer-aided Manufacturing)および出荷前に最終試験を必要とするその他のタイプのICデバイスの大容量の最終試験に特に適しています。ADVANTEST T5335Pは高速並列処理アーキテクチャを利用しており、ホストコントローラ、カードラック、テスターモジュール、グローバルコントロールおよびモニターを備えています。このマシンには、ユーザプログラマブルなマルチハードウェアおよびソフトウェアテスト機能も含まれています。T 5335 Pは、ロジックテスト、アナログ/デジタル測定、フォルト検出など、幅広いテスト機能を提供します。このツールは、複雑なテスト要件に迅速に適応できる独自のMemoryFlexコントローラを使用しています。MemoryFlexコントローラは、テストシーケンスを実行する前にテスト障害を検出するため、エラーが発生した場合にテストを中断することができます。このアセットには8つのテストサイト(6つの機器付きテストサイトと2つの一般的なテストサイト)があり、さまざまな特殊な機能を使用して構成することができます。これらの機能には、デジタル刺激、電子校正、クロストーク検出機能、および供給と速度の最適化が含まれます。また、ロジックノイズ解析、ノードスキャン解析、パターン結合など、さまざまなテストユーティリティを実行できます。さらに、ADVANTEST T 5335 Pにはグローバルコントロールとモニターが搭載されており、テスト結果と分析データを大きなカラーディスプレイに表示します。また、レポート生成、自動データロギング、データベースへのリアルタイムインターフェイスも備えています。T 5335P Final Test Systemは、CAMやその他のICデバイスの大量テストに最適です。高速、並列処理機能、柔軟なテスト機能、包括的なレポート機能により、半導体、RF、およびデジタルデバイスのテストアプリケーションに最適です。
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