中古 ADVANTEST T 5335P #9311749 を販売中
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ID: 9311749
ヴィンテージ: 1995
Memory tester
Temperature range: 150°C
Tester processor: TP4
OS Rev:
ASX/U-50: 6.04-1
SunOS Release 5.5.1 ASXUBASE: 2.02
DIAG5335SU (Tester diagnosis): 6.03G
TH1: 650
OP1 Pin card
OP2 Pin card
DPU: TH1
DC: 1-8
10V PPS: 1-16
HV PPS: 1-4
FM: 144 M
(2) FM Boards
Size of FM module: 1 M
Memory bank
(4) Memory blocks
No patten memory
BGR-020816 FM Board
MRA:
MRA Option: MRA2
Type of CBU board: BGR-019267
(2) CBU Boards
Type of FBM board: 2 M, 72 Bit
(4) FBM Boards
No compression function
FCDC:
Flash option
BGR-020774 SC Board
1995 vintage.
ADVANTEST T 5335Pは、自動車、消費者、医療アプリケーションのエンドオブライン試験用に設計された、高速で多目的な機能テスターです。最終試験とバーンイン試験の両方に精度と信頼性を提供し、幅広い製品設計をサポートする出力レートは最大25.4MHzです。革新的なアーキテクチャと高度なエンジニアリング機能により、ADVANTEST T5335Pは幅広いアプリケーションに高性能で費用対効果の高いテストソリューションを提供します。T 5335 Pは、最終テストとバーンインテストの両方のために設計されており、さまざまなアプリケーションのさまざまなテストパターンをサポートできる最大1024 I/Oチャネルを備えたテストシステムセルを内蔵しています。電圧と電流の測定、温度監視、センサテスト、ロジックゲート解析などの複雑なテストパターンに対応できます。また、より複雑なテスト構成をサポートするデジタルおよびアナログプラットフォームも含まれています。T 5335Pには、マルチボード制御/マルチデバイスコントロール(MBC/MDC)、分析のためにExcelにテスト結果をエクスポートする、高速参照のためのデータアーカイブなどの最新の自動試験装置(ATE)機能もあります。プログラムチェンジオーバーが迅速に行われ、本番環境でのテスト時間を短縮し、タイトなテストスケジュールをサポートします。T5335Pは、EN 55026電磁適合性(EMC)規格およびEN 61010-1安全規格を含む関連する国際的な安全基準に準拠しています。さらに、ADVANTEST T 5335 Pには、データとリソースを偶発的または悪意のあるアクセスから保護するための高いセキュリティ対策が組み込まれています。高度なテストシステム開発のために、ADVANTEST T 5335Pは強力なソフトウェア開発環境を提供し、ユーザーは最小限の時間でシステムを迅速に展開および検証することができます。この環境では、高度なテストシステムの開発を可能にするシミュレーション、デバッグ、および最適化機能を提供します。要するに、ADVANTEST T5335Pは、自動車、消費者、医療、その他の産業向けに高速で費用対効果の高い試験およびバーンインソリューションを提供します。包括的な機能により、信頼性の高いテスト結果とテスト効率の向上が保証され、高度なテストシステム開発に最適です。
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