中古 ADVANTEST T 5335P #9311747 を販売中

ADVANTEST T 5335Pは集積回路および装置テストのために設計されている上限および高度の最終試験装置です。このテストシステムは、エンジニア、技術者、および半導体製造設備の運用スタッフによって使用することができます。特に高速および大容量デバイスのテストに適しています。テストユニットは、複雑なiC設計を含むロジック、ミックスドシグナル、RF ICのテストが可能です。静的および動的テスト、高速テスト、パラメトリックテスト、RFテストなど、幅広いATE機能をサポートしています。また、高密度デバイスおよびミックスドシグナル集積回路のテスト用に超並列（LP）および並列（GP）プログラムされたテストもサポートしています。ADVANTEST T5335Pは、複数のデバイスを使用してスループットを高速化し、精度を向上させます。その電気的にプログラム可能なロジックコントローラ（EPLC）は、テスターインターフェイスの直接プログラミングを可能にし、そのデバイスドライバソフトウェアは、すべてのデバイスの迅速かつ簡単なプログラミングを可能にします。その高度なテストパターン言語は、命令のシーケンスを含み、複雑なデバイスの超高速テストを可能にします。T 5335 Pはまた、デバイスのパフォーマンスに関するデータ収集と分析を可能にします。高速ネットワーク通信インターフェースは、分散アーキテクチャのテストステーションと計測装置をサポートし、高速テスト実行とリモートアクセスを可能にします。この機能により、従来の手動テストプロセスよりも少ないエラーでジョブを迅速に実行できます。このツールにはモジュラーハードウェア設計が装備されているため、最新のデバイスモジュールで簡単にカスタマイズできます。オープンアーキテクチャは複数のインターフェイスボードをサポートしているため、ユーザーはさまざまなデバイスインタフェースを組み合わせて高速テストを行うことができます。フレキシブルエクステンシブルデザイン（FED）アーキテクチャにより、新しいデバイスモジュール、追加のボード機能、追加のI/Oインターフェイスを使用して簡単にカスタマイズできます。高度なデバイスとアプリケーションプログラミングのために、ADVANTEST T 5335 Pには独自のソフトウェア言語が装備されています。これにより、デバッグ、セットアップ、結果を完全に統合して、テストシーケンスとデバイスのインタラクションを簡単にプログラミングできます。すべての命令は高精度で実行でき、制御アセットはすべてのテスト機能と結果を監視するように設計されています。モデルはまた速く、容易な維持のために設計されています。ユーザーフレンドリーなグラフィカルユーザーインターフェイスは、使いやすさとアクセシビリティのために設計されています。変化する顧客や業界のテストのニーズに合わせて素早く変更することができ、機器は非常に汎用性が高く拡張性があります。T5335Pは、最も要求の厳しい試験ニーズを満たすように設計された、強力で信頼性の高い最終試験システムです。このユニットは、幅広いテストおよびプログラミング機能を備えており、集積回路およびデバイスメーカーにとって不可欠なツールです。モジュール式ハードウェア設計、柔軟なプログラミング言語、高度なテストパターン言語、直感的なユーザーインターフェイスにより、高度なテストと分析に不可欠な選択肢となっています。