中古 ADVANTEST T 5335P #9311741 を販売中

ADVANTEST T 5335Pは、半導体デバイスにテスト機能を提供するために設計された最終試験装置です。最大10個のテストヘッドをサポートする構成可能な高速テストプラットフォームであり、お客様はテストスループットと品質を最大限に引き出すためにテストプロセスを最適化できます。ADVANTEST T5335Pは、スルーホールデバイスやパッケージ、マイクロバンプやフリップチップ試験など、さまざまなデバイス試験要件に対応する複数の接触タイプを備えたテストヘッドモジュールを備えています。また、プローブ針の高解像度特別なプログラミングを使用して、テスト中のデバイス（DUT）と正確な接触を提供する強力な電動プローバーを備えています。T 5335 Pは、幅広いテストアプリケーションソフトウェア製品をサポートし、お客様が独自のテストプログラムとアプリケーションを迅速かつ柔軟に開発できるようにします。これには、汎用デバイスと特殊な高周波テストプログラムの両方が含まれ、確立されたメモリとロジックデバイス、ならびにMEMSやNFCなどの新興技術の特性評価と生産テストを可能にします。ADVANTEST T 5335 Pのハードウェアおよびソフトウェアシステムコンポーネントは、高速で信頼性の高い高性能テストユニットプラットフォームを提供するために協力しています。デュアルオンボードCPUは、2つのCPU間でテストシーケンスを分割することにより、テスト実行を高速化します。また、最大72チャンネルの並列刺激とアナログおよびデジタルファンネリングをサポートしており、複数のテストポイントを並列にテストしてスループットを向上させます。T 5335Pを使用すると、0。1〜160mVの広いダイナミックレンジで、最大4シグマ以上の試験精度を達成できます。これにより、高精度のテストデータが保証され、顧客の期待を超える結果が得られます。高度なハードウェア機能に加えて、T5335Pは最大16ラックの試験装置で構成することができます。このような構成可能なマシンを使用すると、お客様は広範囲のテストモジュールとアクセサリにアクセスでき、幅広いデバイスのテスト要件をカバーできます。ADVANTEST T 5335Pはまた、お客様に高い柔軟性を提供し、テストプログラムやアプリケーションをカスタマイズすることができます。包括的なサービスとサポートにより、お客様の生産性を維持し、テストニーズを満たすことができます。