中古 ADVANTEST T 5335P #9178728 を販売中
URL がコピーされました!
タップしてズーム
ID: 9178728
ウェーハサイズ: 12"
ヴィンテージ: 1996
Memory tester, 12"
System configuration generate
Configuration of test head
Number of test head [1,2] ...........................>[2]
Configuration of test head 1
Test head type
1.650CH
2.1300CH [1,2] .....................> [1]
Pin configuration Slot no. [33,97,41,105]
Child A ....> [33,41,97,105˙]
Child B ....> [33,41,97,105˙]
Child C ....> [33,41,97,105˙]
Child D ....> [33,41,97,105˙]
Pin configuration Option1 PIN CARD [Y,N]
Child A ....> [Yes]
Child B ....> [Yes]
Child C ....> [Yes]
Child D ....> [Yes]
Pin configuration Option2 Pin card [Y,N]
Child AB ...> [Yes]
Child CD ...> [Yes]
Bypass capacitor to 10V/16V PPS (PCON)
1. Non existent
2. Existent [1,2] ..............> [1]
Bypass capacitor to HV PPS (PCON)
1. Non existent
2. Existent [1,2] ..............> [1]
Configuration of test head 2
Test head type
1.650CH
2.1300CH [1,2] [1]
Pin configuration Slot no. [33,97,41,105]
Child A: [33,41,97,105]
Child B: [33,41,97,105]
Child C: [33,41,97,105]
Child D: [33,41,97,105]
Pin configuration Option1 pin card [Y,N]
Child A [Yes]
Child B [Yes]
Child C [Yes]
Child D [Yes]
Pin configuration Option2 pin card [Y,N]
Child AB [Yes]
Child CD [Yes]
Bypass capacitor to 10V/16V PPS (PCON)
1. Non-existent
2. Existent [1,2] [1]
Bypass capacitor to HV PPS (PCON)
1. Non-existent
2. Existent [1,2] [1]
Configuration of DPU
1'ST DPU : STN 1,2 [Y,N] [Yes]
2'ND DPU : STN 1,2 [Y,N] [Yes]
Test head 1
DC Configuration [1-16] [1-16]
10V PPS Configuration [1-32] [1-32]
16V PPS Configuration [17-32] [˙]
HV PPS Configuration [1-4] [1-4]
Test head 2
DC Configuration [1-16] [1-16]
10V PPS Configuration [1-32] [1-32]
16V PPS Configuration [17-32] [˙]
HV PPS Configuration [1-4] [1-4]
1'ST GPIB I/F Board 0.No
1.BGR-010944X01
2.BGR-010944X02
3.BGR-010944X03
4.BGR-010944X04
5.BGK-012718 [0-5] [0]
2'ND GPIB I/F Board 0.No
1.BGR-016793 (DPU I/F)
2.BGR-010944X05
3.BGK-012718X02 [0-3] [1]
DMM Type
1. TR6861
2. R6871E
3. R6551
4. R6552T [1-4] [3]
AC Frequency (Hertz) [50,60] [60]
Configuration of FM
Number of FM board [0-4] [2]
Size of FM module
1. 1M
2. 4M
3. 8M [1-3] [1]
Number of memory bank [1-2] [2]
Number of memory bank [1-4] [4]
Pattern memory [Y,N] [No]
FM Board kind
1. BGR-020816
2. BGR-020816X02 [1-2] [2]
Configuration of MRA
MRA2/3 Option [Y,N] [Yes]
MRA Option type [2,3] (2=MRA2,3=MRA3) [2]
Type of CBU Board [1,2]
(1: BGR-019267)
(2: BGR-019267X02) ....> [1]
Number of CBU Board [1,2] [2]
Type of FBM Board [1,2,3,4] (1= 2M*72BIT)
(2= 4M*72BIT)
(3= 8M*72BIT)
(4=16M*72BIT) .........> [1]
Number of FBM Board [1-4] [4]
Compression function [Y,N] [No]
Configuration of FCDC
Flash option [Y,N] [No]
SC Board kind
1. BGR-020774
2. BGR-020774X02 [1-2] [1]
End save
1996 vintage.
ADVANTEST T 5335Pは、今日の高密度および複雑な集積回路（IC）の性能を迅速に評価するために設計された包括的な最終試験装置です。このシステムは、ICテスター、ハンドラ、およびさまざまなテストヘッドを含む機器のプラットフォームで構成されています。テスターには幅広い汎用性とユーザプログラマブルなテストプログラムが装備されており、さまざまなICを簡単かつ自信を持ってテストすることができます。ADVANTEST T5335Pテスターは高速データ取得が可能で、テストを設定しながらデータを正確に分析することができます。メンテナンスフリーで長寿命の設計により、高温および過酷な環境条件下でも信頼性の高い性能を保証します。そのユーザーフレンドリーなグラフィカルユーザーインターフェイスは、簡単な操作とプログラミングを可能にし、テストの安全な実行を可能にするさまざまな機能が含まれています。T 5335 P ICテスターは高精度で、ICの欠陥の最小でも検出できます。高密度テスト機能により、最大1608ピンのICを処理できます。その自動テスト生成機能は、異なるICのテストを迅速に構築し、時間とコストの両方を節約します。また、試験装置には安全制御装置が内蔵されており、試験中のICの損傷を防ぎます。T5335Pツールは、アナログIC、 デジタルロジックIC、 MCM IC、マイクロコントローラ、プロセッサ、およびアプリケーション固有のICを含むさまざまなICをテストするように設計されています。さらに、このアセットには、電気情報をキャプチャし、ICの各ピンで電気信号を分析するように設計された複数のテストヘッドが含まれています。このモデルはまた、リアルタイムの故障診断を提供し、ユーザーはテスト中に問題をすばやく特定することができます。さらに、ADVANTEST T 5335 P装置は、IC試験の効率と精度を高めるための幅広い追加機能を提供します。これには、フォルトシミュレーションとアナログパラメトリックテスト、並べ替え、比較、印刷、表示などのデータ分析機能が含まれます。最後に、システムはADVANTESTの信頼性の高いカスタマーサービスに支えられており、T 5335Pは高密度で複雑なICをテストするのに理想的な選択肢です。
まだレビューはありません