中古 ADVANTEST T 5335P #293754579 を販売中
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ID: 293754579
Tester
Type: TTL + GPIB
(144) IO Pins
36G HD Capacity
HV Option
FAM and FBM Size: 8 M
Pattern memory: 144 M
BGR-020816X02 FAM Board
BGR-019267X02 CBU Board
BGC-022310 FAM Module
BGR-022461 FBM Board module
BGF-022575
FAM
MRA2.
ADVANTEST T 5335Pは、契約メーカーと統合デバイスメーカー(IDM)のニーズを満たすように特別に設計されたハイエンドの最終試験装置です。このシステムは完全に自動化されており、バーンインテスト、診断、機能テスト、モジュール認定テストなど、さまざまなアプリケーションのさまざまなテスト技術をサポートできます。ADVANTEST T5335Pは、8チャネルのピンカード、最大4つのオプションのバーンインボード(BIB)、および通信用の統合された並列PCI Express (PCIe)インタフェースを使用した革新的なハードウェア設計を利用しています。テストユニットにはモジュラーアーキテクチャと最大4つの構成可能なテストセルまたはテストモジュールがあり、各テストモジュールは最大8つのテストカードを処理できます。各テストセルは、構成可能なテストヘッドを使用して、BGAおよびQFNコンポーネントの両方のような幅広い製品ミックス構成をサポートします。T 5335 Pは、高速データ収集に最適化された高度なソフトウェアアーキテクチャを備えています。分散したI/Oアーキテクチャを持ち、多数の高速プロセッサ、メモリ、マルチプレクサを使用して、機械がテストデータを素早く取得して処理することができます。このツールはまた、外部構成可能なI/Oモジュール、ハイエンドプロセッサ、およびソフトウェアの広範な範囲をサポートしており、バーンイン、診断、機能、モジュール認定テストなどのさまざまなテスト方法をサポートしています。ADVANTEST T 5335 Pは、ASICやASICsプラスモデルなどの高密度で複雑なデバイスをテストすることができます。構成可能性が高く、1つのテストセルで最大256のテストチャネルをサポートし、高いスループット率でサイクルタイムを向上させることができます。このテストアセットにより、DUTやチップなどの集積回路を1つまたは複数のパッケージで完全にテストできます。デジタルデバイスでのテストに加えて、T5335Pはアナログ-デジタルコンバータ(ADC)とデジタル-アナログコンバータ(DAC)を活用して、完全なアナログテストが可能であり、デジタルパターンジェネレータとデジタルパターン応答アナライザを統合しています。全体として、T 5335P Final Test Modelは非常に信頼性の高いハイエンド製品で、契約メーカーや統合デバイスメーカーのニーズを満たすように設計されています。柔軟で高度なソフトウェアとハードウェアアーキテクチャ、高度に構成可能なインターフェイスを備えており、あらゆるデバイステストに幅広いテスト機能を提供します。
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