中古 ADVANTEST T 5335P #135567 を販売中
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ID: 135567
ヴィンテージ: 1997
Memory test systems
Configuration:
CONFIGURATION OF TEST HEAD
NUMBER OF TEST HEAD [1,2] ...........................> 2
CONFIGURATION OF TEST HEAD 1
TEST HEAD TYPE
1.650CH
2.1300CH [1,2] .....................> 1
PIN CONFIGURATION SLOT NO. [33,97,41,105]
CHILD A ....> 33,41,97,105
CHILD B ....> 33,41,97,105
CHILD C ....> 33,41,97,105
CHILD D ....> 33,41,97,105
PIN CONFIGURATION OPTION1 PIN CARD [Y,N]
CHILD A ....> YES
CHILD B ....> YES
CHILD C ....> YES
CHILD D ....> YES
PIN CONFIGURATION OPTION2 PIN CARD [Y,N]
CHILD AB ...> YES
CHILD CD ...> YES
BYPASS CAPACITOR TO 10V/16V PPS (PCON)
1.NON-EXISTENT
2. EXISTENT [1,2] ..............> 1
BYPASS CAPACITOR TO HV PPS (PCON)
1.NON-EXISTENT
2. EXISTENT [1,2] ..............> 1
CONFIGURATION OF TEST HEAD 2
TEST HEAD TYPE
1.650CH
2.1300CH [1,2] .....................> 1
PIN CONFIGURATION SLOT NO. [33,97,41,105]
CHILD A ....> 33,41,97,105
CHILD B ....> 33,41,97,105
CHILD C ....> 33,41,97,105
CHILD D ....> 33,41,97,105
PIN CONFIGURATION OPTION1 PIN CARD [Y,N]
CHILD A ....> YES
CHILD B ....> YES
CHILD C ....> YES
CHILD D ....> YES
PIN CONFIGURATION OPTION2 PIN CARD [Y,N]
CHILD AB ...> YES
CHILD CD ...> YES
BYPASS CAPACITOR TO 10V/16V PPS (PCON)
1.NON-EXISTENT
2. EXISTENT [1,2] ..............> 1
BYPASS CAPACITOR TO HV PPS (PCON)
1.NON-EXISTENT
2. EXISTENT [1,2] ..............> 1
CONFIGURATION OF DPU
1'ST DPU : STN 1,2 [Y,N] ..........................> YES
2'ND DPU : STN 1,2 [Y,N] ..........................> NO
TEST HEAD 1 DC CONFIGURATION [1-16] .............> 1-16
10V PPS CONFIGURATION [1-32] .............> 1-32
16V PPS CONFIGURATION [17-32] ............>
HV PPS CONFIGURATION [1-4] .............>
TEST HEAD 2 DC CONFIGURATION [1-16] .............> 1-16
10V PPS CONFIGURATION [1-32] .............> 1-32
16V PPS CONFIGURATION [17-32] ............>
HV PPS CONFIGURATION [1-4] .............>
1'ST GPIB I/F BOARD
0.NONE
1.BGR-010944X01
2.BGR-010944X02
3.BGR-010944X03
4.BGR-010944X04
5.BGK-012718 [0-5] .........> 0
2'ND GPIB I/F BOARD
0.NONE
1.BGR-016793 (DPU I/F)
2.BGR-010944X05
3.BGK-012718X02 [0-3] .........> 1
DMM TYPE 1.TR6861
2.R6871E
3.R6551
4.R6552T [1-4] .........> 4
AC FREQUENCY (HERTZ) [50,60] ........................> 60
CONFIGURATION OF FM
NUMBER OF FM BOARD [0-4] .........> 4
SIZE OF FM MODULE
1. 1M
2. 4M
3. 8M [1-3] .........> 1
NUMBER OF MEMORY BANK [1-2] .........> 1
NUMBER OF MEMORY BLOCK [1-4] .........> 4
PATTERN MEMORY [Y,N] .........> NO
FM BOARD KIND 1. BGR-020816
2. BGR-020816X02 [1-2] ..............> 2
CONFIGURATION OF MRA
MRA2/3 OPTION [Y,N] ...........................> YES
MRA OPTION TYPE [2,3] (2=MRA2,3=MRA3) ...........> 2
TYPE OF CBU BOARD [1,2] (1: BGR-019267 )
(2: BGR-019267X02) ....> 1
NUMBER OF CBU BOARD [1,2,3,4] .......................> 2
TYPE OF FBM BOARD [1,2,3,4] (1= 4M*36BIT)
(2= 4M*72BIT)
(3= 8M*72BIT)
(4=16M*72BIT) .........> 3
NUMBER OF FBM BOARD [1-4] ...........................> 4
COMPRESSION FUNCTION [Y,N] ...........................> NO
CONFIGURATION OF FCDC
FLASH OPTION [Y,N] ...........................> YES
SC BOARD KIND 1. BGR-020774
2. BGR-020774X02 [1-2] ..............> 1
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1997 vintage.
ADVANTEST T 5335Pは、エレクトロニクス、自動車、ロボットなど、さまざまな分野のエンジニアや専門家のために設計された最終試験装置です。このシステムは、ユニットレベルの検証とデバッグに関連するテストを実行するためのハイエンドソリューションを提供します。ADVANTEST T5335Pは、包括的なテストプログラミング機能と包括的なテストを提供しています。精密な機械テストシナリオ、検証、デバッグ、解析、マルチコアツールオンチップ（SoC）デバイスの最適化。プログラマブルなデジタル信号処理（DSP）プラットフォームが含まれており、アナログ/デジタル/デジタル/アナログ信号変換を構成してカスタムのテストソリューションを作成できます。さらに、電子デバイスは、オシロスコープを使用して詳細な設計データを取得しながら、プログラマブル電源（PPS）経由でパワーアップすることができます。Fast Fourier Transform （FFT）やVector Signal Analyzerなどの高度なテストツールは、信号処理やシミュレーションおよびエミュレーションソリューションの構成と最適化に役立ちます。T 5335 Pは、パラメータ推定と検証のためのSemiconductor Parametric Test （SIP）にも使用できます。さらに、このテストアセットは、オーディオおよびビデオテストなどのアプリケーションの信号と時間の相関を可能にします。テストはスタンバイとアクティブモードの両方で行うことができます。最後に、T 5335Pは、リアルタイムのブレークポイントとトレースキャプチャを使用して、本番実行のデバッグ時間を短縮し、高度なデバッグ機能を提供します。また、正確で効率的なハードウェアおよびソフトウェアテストを保証するためのデータ管理機能も備えています。これには、ビッグデータストレージ（BDS）オプションが含まれており、波形やタイミング図など、さまざまなテストデータを保存できます。全体的に、それは最終的なテストソリューションの多目的な範囲の高度なテストモデルです。
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