中古 ADVANTEST T 3347P #158126 を販売中

ADVANTEST T 3347P Final Test Equipmentは、半導体製品の信頼性が高く効率的な最終試験用に設計されたユーザーフレンドリーで高性能なシステムです。これは、拡張カバレッジを持つ複雑なテストを実行することができる非常に特色、高速テスターが装備されています。このユニットの柔軟な設計は、さまざまな出力とハイミックス環境に拡張可能な試験技術を使用しています。これは、顧客の特定のニーズに基づいてデジタルとアナログの両方のテストを実行する機能を提供します。マシンのモジュラーハードウェアとソフトウェアアーキテクチャにより、迅速なインストールとデバッグが可能です。この柔軟なハードウェアとソフトウェアは、お客様ごとに最適なソリューションを提供するように構成することができます。コンパクトな設計で狭いスペースに収まり、低消費電力で冷却などの運用コストを削減します。T 3347P Final Test Assetには、多くの種類のチップの精密テストを可能にする浮動ポイントプロセッサを備えた高速テスターなど、多くの機能が付属しています。このモデルには、複数のテストポイントからの同時スキャンとテストを可能にするマルチサイトデータ収集装置もあります。さらに、このシステムは、テスト時間を短縮し、診断機能を向上させるために、最適化された回路基板レイアウトとテストインターフェイスを備えています。高度な機械学習アルゴリズムを使用して、テストの精度とパフォーマンスを向上させ、テストデータの収集と出力を自動化します。自動化機能により、ヒューマンカメラのインターフェースのテスト時間とコストを削減できます。ADVANTEST T 3347P Final Test Unitは、効率的なアルゴリズムと自動化されたデータ収集と出力の使用により、非常に効率的で再現可能な精度レベルを備えています。マシンはプラグアンドプレイであるため、追加のハードウェアやソフトウェアは必要ありません。このツールは、今日のコストに敏感な半導体産業の生産スループットを向上させるために設計されています。全体として、T 3347P Final Test Assetは使いやすく、効率的で正確なモデルであり、半導体製品の信頼性と効率的な最終試験に究極のソリューションを提供します。柔軟なモジュラーハードウェアとソフトウェアにより、迅速なセットアップとデバッグが可能になり、高度な自動化および機械学習アルゴリズムにより、テスト時間をさらに短縮し、精度とパフォーマンスを向上させます。この装置は、今日のコストセンシブ半導体産業の生産スループットを向上させるように設計されています。