中古 ADVANTEST T 3347 #9184234 を販売中

ADVANTEST T 3347は、半導体デバイスの高速および複雑なテストの超高速性能のために設計された最先端の最終試験装置です。このシステムは、非侵入型の特許取得済みの高周波ダイレクトアクセスアーキテクチャに基づいており、異なる技術と複数の周波数で複数のコンポーネントを同時かつ正確にテストできます。この単位は生産テスト、実験室テスト、焼入れテストおよびモジュールの特徴付けのために形成することができます。ADVANTEST T3347はConfigurable Test Handler （CTH）と5つのテストボードで構成されています。高性能T 3347テスターは、レガシー、モダン、将来の製品の簡単で正確なテストを可能にします。また、ユーザーは製品の需要に応じてテストプランを最適化することができます。このマシンの高度な機能には、オンラインテストの最適化、再現可能な測定精度、自動利得最適化、自動セットアップ、診断などがあります。このツールは、手動およびロボットテストハンドリングのハイブリッドを採用しています。CTHは製品を受け入れ、テストハンドラにロードし、テストボードに配置し、最終的にテストボードを順次操作します。各テストボードは、一度に最大16個のデバイスピンをテストできます。さらに、モデルの高度なリアルタイム制御アセットは、デバイスの各ピンの精密テストを可能にします。T3347には、テスト後にシリコンを迅速かつ正確に冷却するプログラム可能な空冷技術を利用した放熱テストソリューションも含まれています。これにより、正確な温度による信頼性の高い試験結果が保証されます。ADVANTEST T 3347のデバッグツールを使用すると、テスト手順のエラーをすばやく特定してトラブルシューティングできます。さらに、この機器にはグラフィカルユーザーインターフェイス（GUI）と高忠実度アプリケーションソフトウェアが装備されており、テストのパフォーマンスと効率を向上させます。リモートコネクト機能も備えており、リモート診断やユーザーのテスト結果の監視を容易にします。ADVANTEST T3347システムは、包括的な機能、高スループット、再現可能な測定精度を備えた半導体デバイス試験に最適なソリューションです。その先進的な機能により、迅速で信頼性の高いテストを実現しながら、コスト削減を最大化します。