中古 ADVANTEST T 3347 #293600398 を販売中
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ID: 293600398
Tester
Processor: TP4A
(2) Test heads
I/O: 256 Channels
PE Non-functional
SYSTEM CONFIGURATION GENERATE
Configuration of test station
How many test station <1 or 2 & CR> ? 2 ................> 2
Test station 1 is 256HV2
Station1 reverse flow type <Y or N & CR> ? no ..............> no
What number of pin exist in station 1 ......................> 1-256
pin no. (ex:1-256) ? ..................> 1-256
Test station 2 is 256HV2
Station2 reverse flow type <Y or N & CR> ? no ..............> no
What number of pin exist in station 2 ......................> 1-256
pin no. (ex:1-256) ? ..................> 1-256
SELECT PPS/MDC/UDC
System : 4PPS (1) or 8PPS (2)
Select PPS (see above) <0-2 & CR> ? 2 ............> 2
Station 1 : 8MDCs (1) or 16MDCs (2) or 24MDCs (3) or 32MDCs (4)
Select MDC (see above) <1-4 & CR> ? 2 ............> 2
Station 1 : 1UDC (1) or 2UDCs (2) or 4UDCs (4)
Select UDC (see above) <0-4 & CR> ? 2 ............> 2
Station 2 : 8MDCs (1) or 16MDCs (2) or 24MDCs (3) or 32MDCs (4)
Select MDC (see above) <1-4 & CR> ? 2 ............> 2
Station 2 : 1UDC (1) or 2UDCs (2) or 4UDCs (4)
Select UDC (see above) <0-4 & CR> ? 2 ............> 2
60V PPS/UDC option exist <Y OR N & CR> ? no ........> no
SELECT DMM
R6871E (1) or R6581T (2)
Select DMM (see above) <1-2 & CR> ? 1 ............> 1
GPIB ADDRESS #210
BIT/AD option exist <Y or N & CR> ? no .........................> no
ADC test option exist <Y or N & CR> ? no .......................> no
HV2-HSCLK option exist <Y or N & CR> ? no .......................> no
Select option CLK
64TE CLK option exist <Y or N & CR> ? no .....................> no
Select STE size
STE capacity 256KW(1) 1MW(2) 2MW(3)
Select STE size (see above) <1-3 & CR> ? 2 ...................> 2
SBM option exist <Y or N & CR> ? yes ..........................> yes
How many SBM memory boards <1-8 & CR> ? 2 ...................> 2
ALPG option exist <Y or N & CR> ? no ...........................> no
END SAVE.
ADVANTEST T 3347は高度で多機能な最終試験装置です。このシステムの統合設計により、データ収集、包括的な分析、および包括的なデバイス検証が合理化されます。ADVANTEST T3347は、PCI Express光インターフェース、4台のカメラ、リアルタイムビジュアライザ、高度な画像処理機能で構成される高性能な画像取得プラットフォームを備えています。この装置のイメージングプラットフォームは、はんだ接合部、チップパッケージ接続、およびその他の信頼性試験の高度な検査を可能にします。最大24メガピクセルの解像度の高精度画像を撮影できます。T 3347には直感的なワークフローがあり、簡単で反復可能なテスト用に設計されています。プログラム可能な操作マシンで構築されたこのツールは、Windows環境で動作し、既存のテストプロトコルにすばやく簡単に統合できます。また、さまざまなテストデバイスの種類、複数の信号経路、自動化されたテスト、組み込みのモジュラーテストスタンドなど、包括的なツールと機能を備えています。アセットには「スマートアナリシス」機能が搭載されており、対象デバイスの自動検出とその電気特性を実現します。フライングプローブ試験、耐熱試験、パワーインテグリティ評価など、さまざまな性能試験が可能です。ユーザーフレンドリーなソフトウェアパッケージにより、T3347はテストのカスタマイズと自動化を迅速かつ簡単に行うことができます。このモデルは厳格な品質管理プロセスを受けており、すべての前進は製品リリースに必要な厳格さで徹底的にテストされています。さらに、ADVANTEST T 3347は、高度なエンジニアサービスとテストと検証のための自動化されたソリューションをメーカーに提供する排他的な「スマートテストセンター」サービスプログラムの一部です。結論として、ADVANTEST T3347は強力で高度な最終試験装置です。統合された設計により、このシステムは包括的な機能、機能、信頼性を提供します。このユニットは、デバイスの機能を確保し、製品のパフォーマンスを検証するための汎用性の高いソリューションをメーカーに提供しています。
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