中古 ADVANTEST T 3346U #9196002 を販売中

ADVANTEST T 3346Uは、ミックスドシグナル技術を用いた幅広い半導体部品の試験に使用される高性能、高能率、最終試験装置です。統合されたテストリソース管理、テストプログラムのコンパイル、さまざまな設計のフィールド指向スキャンを備えています。T 3346Uは、高度な混合信号ICの精密試験用に構築されています。低電力、高速フロントエンドユニットで構成されており、柔軟で精密なテストツールとリソースを提供します。また、高速かつ効率的なテスト実行ユニットと強力なデータストレージ機能を備えた高速バックエンドを内蔵しています。このマシンは、設計解析から大量生産まで、さまざまな混合信号コンポーネントの効率的かつ効果的なテストを可能にするように設計されています。このツールは、ベクトルセット管理、プログラム可能なスキャンテスト、メモリテスト、資産再構成可能など、すべての重要なテスト機能を提供します。また、校正機能を内蔵し、測定精度を向上させることができます。ADVANTEST T 3346Uは、シリアルRapidIO、 DDR3、 10GBase-Tなど、さまざまな高速通信インタフェースを提供しています。これにより、設計からプロトタイプへの効率的なデータ転送が、手作業で行われることなく実現できます。このモデルは、使いやすいテスト構成ツールを備えた高度なフォルトモデリングも提供します。マルチジオメトリスキャンテスト機能により、設計プロセスが成熟するにつれて、装置は体系的にテストカバレッジを拡張できます。エミュレートされた環境シミュレーションにより、アナログとミックスドシグナルの両方の設計エクスペリエンスが向上します。このシステムはまた、テスト用の自動プローブステーションを備えており、さまざまな半導体コンポーネントのテストニーズを統合しています。電気パフォーマンスモデリング、パラメトリックパラメータ監視、パワーノイズ解析、グラフベースの信号解析などの包括的な分析ソリューションを提供します。T 3346Uは直感的なユーザーフレンドリーなインターフェイスを備えており、ユーザーはテストを迅速に開発、カスタマイズ、デバッグすることができます。これには、強力なデバッグ機能を提供する幅広いソフトウェアライブラリとウィザードが含まれています。このユニットは、さまざまなテストコンポーネントをデバッグするための機能豊富なグラフィカルデバッグ環境も備えています。このマシンは、優れたテスト精度、精度、拡張性、設計互換性、およびデータストレージ機能を提供することができます。複雑な混合信号プロジェクトや高度なIC設計の最終試験アプリケーションに最適です。このツールは、大量の生産テストに最適で、迅速なプロトタイプ開発をサポートします。