中古 ADVANTEST HP83000 #9278709 を販売中

ADVANTEST HP83000は、半導体デバイスの機能と性能を測定するために使用される高性能の自動サードパーティの試験装置です。このシステムは、汎用消費者から高速プロセッサやASICなどの特殊なデバイスまで、アプリケーションの最終試験運用を行うように設計されています。テスト対象の実際のデバイスを含むTest Cell StationとControl Moduleで構成されています。テストセルステーションは、テストヘッド、サブシステム、およびコントローラで構成されています。テストヘッドは、各種試験運用に特化した試験装置の使用を容易にする電気機械式測定装置です。サブシステムモジュールは、デバイスの電源、I/Oインターフェイス、テスト制御、エラー検出およびリカバリ機能を提供します。Controllerは、治具の準備、データキャプチャ、結果分析などのテスト操作を調整します。Test Cell StationはControl Moduleにリンクされており、テストプログラム開発、フィクスチャ処理、およびデバイスレベルのデータストレージ用の集中サーバーを提供します。Control Moduleには、テストマシンと外部環境をリンクし、プログラム情報をTest Cell Stationに通信するProber Interface Moduleも含まれています。さらに、Control Moduleは自動機械設定を提供し、テストオブジェクトを派遣し、テスト結果を一覧表示し、リモートプログラミングとテスト（RTPC）モードを使用してリアルタイムテストにアクセスできます。RTPCモードでは、Control Moduleはテストツール内のプログラマブルロジックコントローラ（PLC）にテストプログラムを生成して実行できます。ADVANTEST HP 83000は、さまざまなテストジョブを実行でき、ランダムロジック、リニア、デジタルロジックIC、フラッシュメモリなど、さまざまな種類の半導体デバイスでテストを実行できます。さらに、このアセットは、複雑なデバイスの高速、マルチチャネル測定および制御されたデバッグを実行できます。また「、ファストスキャン」機能を搭載しており、短時間で複数のデバイスを同時にテストして接続することができます。HP83000は、業界をリードする性能、精度、信頼性を提供する非常に汎用性の高いデバイス試験装置です。この高性能システムは、さまざまなデバイスをテストするための費用対効果の高い信頼性の高いソリューションを提供することができます。柔軟なユーザーインターフェイスは使いやすく、正確さと一貫性を確保するためにテストプランの自動実行を可能にします。このユニットは、生産および研究開発に適しており、さまざまなタイプのデバイスをテストおよび分析するための信頼性が高く効率的な方法を提供します。