中古 ADVANTEST H3-6815 #9105566 を販売中

ADVANTEST H3-6815は、さまざまな半導体デバイスの大量、高精度テスト用に設計された強力な最終試験装置です。デジタル半導体とアナログ半導体、およびミックスドシグナル半導体の両方をテストすることができます。このシステムは、シングルダイICからマルチチップモジュールまたはユニットレベル製品までの製品ラインに使用できます。H3-6815は、0。3mmパッケージで最大68種類の半導体を同時にテストすることができます。ADVANTEST H3-6815の中心にあるのは、高速マルチプレックスインターフェイスであり、データ収集とコンパレータ出力を同時に可能にし、多種多様な半導体デバイスの正確なテストを保証します。高度なウエハレベル試験機能により、ウエハレベルでのダイ特性の高速測定が可能です。高度なアーキテクチャには、16ビット/16チャネルのアナログ/デジタル・コンバータとデジタル比較ロジック回路、ならびにあらゆるタイプの半導体コンポーネントを包括的にテストするための複雑なサポート・ロジックが組み込まれています。さらに、H3-6815にはテスト速度と精度を向上させる機能があります。高度なベクトルスイッチング技術により、高速パラレルデータ移動とデータ転送が可能になります。内蔵メモリBIST技術により故障診断が容易になり、5インチディスプレイを備えたコントロールパネルにより、テストの状態や設定に簡単にアクセスできます。ADVANTEST H3-6815は、さまざまな条件下でテストするためのプログラム可能な自動補正と、ICおよびSMTデバイスでの並列テストのためのバックグラウンドノイズ除去技術を提供します。H3-6815は柔軟性と使いやすさのためにも設計されています。ユーザーがADVANTEST H3-6815テストマシンをカスタマイズするための包括的なオプションのライブラリが用意されています。これらのオプションには、追加のインターフェイスチャネル、データストレージ用のオンボードメモリ、および拡張I/Oポートが含まれます。さらに、H3-6815にはユニバーサル言語インターフェースが装備されており、ユーザーは複数の言語でプログラムをコードして実行することができ、テストの柔軟性が向上します。ADVANTEST H3-6815は、幅広い半導体コンポーネントの高精度テスト用に設計された、高度で強力で柔軟な最終試験ツールです。高速機能とデータ収集とコンパレータ出力の複数チャネルを提供し、正確で信頼性の高い結果を保証するための広範なテストとデバッグ機能を提供します。オプションのライブラリと複数の言語のサポートにより、H3-6815はあらゆるニーズに柔軟性と利便性を提供します。