中古 ADVANTEST B6700 #293759963 を販売中
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ID: 293759963
ヴィンテージ: 2018
Burn-in testers
(4) BiB Racks
Diag board
Multi-zone function
Barcode reader
HITACHI Refrigerator
Memory: 8GB
(2) 1TB Hard Disk Drives (HDD)
Chamber:
Cooling system: Freezer with cooling water
(2) Zones
Temperature range: -10°C to 1550°C
Temperature accuracy:
+/-3°C at range of -10°C to +25°C (3.0 kW load at 24 slots)
+/-3°C at range of +25°C to +150°C (4.5 kW load at 24 slots)
Channel driver:
X: 24-bit
Y: 24-bit
CA: 24-bit
Scan signal: Driver 100 Channels
I/O Signal: 72 Channels
VIL: Fixed to 0 V
VIH: 0.4 V to 4.5 V
Driver skew: ±8 ns
Tr/Tf: < 25 ns at 500 pF
Operating system: Windows 10
PC
Power supply:
Resolution: 10 mV
Accuracy: ±0.5%, 30 mV
Output voltage:
VS1: +0.8 V to 4.5 V
VS2: +0.8 V to +4.05 V
VS3: +0.4 V to +15.0 V
VS4: +0.8 V to 4.5 V
VS5: +0.8 V to 4.5 V
Output current:
VS1: 40 A
VS2: 40 A
VS3: 2-Channels, 3 A
VS4: 20 A
VS5: 20 A
2018 vintage.
ADVANTEST B6700最終試験装置は、大量生産環境向けに設計された洗練された半導体テストプラットフォームです。半導体試験装置のリーディングプロバイダーであるADVANTEST Corporationによって開発されたB6700は、幅広い集積回路(IC)の試験において高度な機能、信頼性、汎用性で知られています。ADVANTEST B6700システムの中核はモジュラーアーキテクチャであり、半導体メーカーの進化するニーズに柔軟かつ拡張性を提供します。このユニットには、デジタル、アナログ、およびミックスドシグナル試験機能を含む複数のテストモジュールに対応できる強力なテストヘッドが装備されています。このモジュール設計により、メーカーは特定のテスト要件に応じてマシンを構成し、テストスループットを最適化し、テストヘッドチェンジのダウンタイムを最小限に抑えることができます。B6700ツールは、再現性と信頼性の高いテスト結果を保証する高精度で安定したテストインターフェイスを備えています。プラットフォームには、ICデバイスの包括的なテストを可能にする高度な測定ユニット、精密計測、および信号処理機能が装備されています。このアセットは、DCパラメトリック測定、機能テスト、性能特性評価など、さまざまなテスト技術をサポートしているため、メーカーはIC設計の完全性と性能を検証できます。ADVANTEST B6700モデルの主な強みの1つは、ICデバイスの最終テストを高速で実行することです。この装置は、高精度と高解像度を維持しながら迅速な試験時間を達成するように設計されており、製造メーカーは生産スループットを最大化し、半導体製品の市場投入までの時間を最小限に抑えることができます。さらに、B6700システムは、テストプロセスを合理化し、全体的な生産性を向上させる高度な自動化機能を提供します。ユーザーフレンドリーなソフトウェアインターフェイスを備えており、オペレータはテストシーケンスのプログラミング、テストデータの分析、包括的なテストレポートの生成を容易にすることができます。また、リモートモニタリングと診断にも対応しており、テスト結果と工具の性能をリアルタイムで追跡できます。ADVANTEST B6700資産は、高いテストカバレッジ、低テストコスト、市場投入までの時間を含む半導体業界の厳しい要件を満たすように設計されています。このモデルは、堅牢なハードウェアコンポーネントと高度なソフトウェアアルゴリズムで構築され、複雑なICデバイスの信頼性と正確なテストを保証します。業界をリードする性能と汎用性を備えたB6700最終試験装置は、半導体メーカーが生産試験プロセスを最適化し、高品質のIC製品を市場に提供しようとする場合に好ましい選択肢です。ADVANTEST B6700最終テストシステムは、量産環境において比類のない性能、信頼性、柔軟性を提供する最先端の半導体テストプラットフォームです。その先進的な機能、モジュール設計、オートメーション機能により、半導体製品の高いテストスループット、低テストコスト、迅速な市場投入を目指す半導体メーカーにとって理想的な選択肢となります。
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