中古 WOOLLAM M-2000 #293771194 を販売中

製造業者
WOOLLAM
モデル
M-2000
ID: 293771194
Ellipsometer Spectroscopic ellipsometer With ESM-300 Auto angle base DET-450 Detector Lamp hours: 4125.3 EC-400 Electronic control LINICON LV-125A Vacuum pump (5) AC Power cables (2) L7417 Light bulb precision pliers Pair glove Bag zip tie (3) Hex keys Xcelite R3322 Screwdriver M-2000 Hardware manual (2) EASE Software manuals DELL OptiPlex 7050 PC Table Monitor Keyboard Mouse Calibration wafer: Si02 On Si: 2 nm Si02 On Si: 10 nm Si02 On Si: 25 nm Si02 On Si: 1000 nm.
WOOLLAM M-2000は薄膜分析および特性評価のための研究および産業適用で広く利用されている最先端の楕円計です。この高度な装置は、厚さ、屈折率、絶滅係数などの薄膜の光学特性を正確かつ正確に測定します。WOOLLAM M2000楕円計は、試料から反射した偏光の変化を測定し、その薄膜特性に関する情報を抽出する楕円測定の原理に基づいています。紫外線から近赤外線(NIR)の波長のスペクトル範囲で動作するため、材料科学、半導体、ナノテクノロジーの幅広い応用が可能です。M 2000は、広いスペクトル範囲をカバーするために、タングステンハロゲンランプ、重水素ランプ、およびレーザーなどの複数の光源で構成することができる高性能の分光楕円計を備えています。この光源の柔軟性により、ユーザーは特定の材料特性やサンプル要件に合わせて測定を調整することができます。M2000楕円計の主要な強みの1つは、光学特性の測定における高精度と精度です。測定された楕円測定データを処理し、必要な薄膜パラメータを高信頼性で抽出できる高度なアルゴリズムとデータ解析ソフトウェアを搭載しています。この機能により、ナノメートルレベルの解像度M-2000持つ複雑な多層構造、薄膜、コーティングの特性評価に最適です。WOOLLAM M 2000エリプソメーターは使いやすさと汎用性を考慮して設計されており、研究者やエンジニアはセットアップ時間を最小限に抑えて幅広い測定を行うことができます。この装置には、自動サンプルステージ、環境チャンバー、現場監視ツールなどのさまざまなアクセサリを装備して、さまざまなサンプルの種類や実験条件に対応できます。WOOLLAM M-2000は、高性能な光学測定に加えて、測定結果を効果的に解釈して提示するための高度なデータビジュアライゼーションと分析ツールを提供しています。計測器のソフトウェアインターフェイスは、測定パラメータ、データ取得、解析ルーチンを直感的に制御し、薄膜の光学特性に関する貴重な洞察をすばやく得ることができます。WOOLLAM M2000楕円計は、堅牢な構造と信頼性でも知られており、実験室の研究と工業生産環境の両方に適しています。この機器のモジュール設計により、メンテナンスとアップグレードが容易になり、長期的なパフォーマンスと進化する実験ニーズとの互換性が保証されます。全般的に、M 2000楕円計は、薄膜分析のための汎用性と強力なツールであり、高精度の測定、高度なデータ分析機能、およびユーザーフレンドリーな操作を提供します。学術研究、材料特性評価、産業品質管理のいずれにおいても、M2000は、優れた精度と効率で薄膜の光学特性に関する貴重な洞察を提供します。
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