中古 TECHNICAL INSTRUMENT COMPANY KMS 300 with K2IND/Nikon #9126174 を販売中

技術機器会社KMS 300 with K2IND/Nikonは、表面や薄膜の分析に使用される楕円計です。研究対象物質の屈折、厚さ、光学定数の角度を決定するために、界面の光の反射と屈折を測定します。KMS 300は統合された自動化された機器で、K2INDソフトウェアを使用したin-situフィルムの測定を含む、完全な解析機能と機能を提供します。KMS 300は、顕微鏡の高度な光学技術と高度なデータ収集装置を組み合わせたニコン独自のK2IND技術を活用し、ユーザーに高精度で詳細な解析を提供しています。KMS 300は研究開発および生産の使用のために設計されています。KMS 300はオートフォーカスレンズと自動校正システムを備えており、実験を迅速かつ効率的にセットアップできます。このユニットには、さまざまなサンプルサイズと材料をスキャンできるスキャンヘッドが含まれています。スキャンヘッドは、UVからIRまでの複数のウェーブバンドを同時に収集することもできます。このマシンはまた、より高い精度のために手動のサンプル平坦度補正と自動化された膜厚マップを提供します。KMS 300は、サンプル表面からの反射光をキャプチャするために、イメージングツールと結合されたサンプル照明源を利用しています。キャプチャされた光は、高速デジタル信号プロセッサ（DSP）を使用して処理され、サンプル材料の屈折角度と光学特性を決定します。このアセットは、高感度検出器を使用して、幅広いサンプル厚さのデータを収集し、厚さ50nmまでの透過および反射薄膜の両方を測定することができます。KMS 300は、85°Cおよび95％の相対湿度までの広範囲の周囲温度および湿度設定で測定を行うことができ、研究開発用途に最適です。また、ユーザーフレンドリーに設計されており、ユーザーエクスペリエンスを向上させるための最小限のユーザーガイダンスのためのカラーグラフィカルユーザーインターフェイスとセルフガイドチュートリアルが含まれています。KMS 300は、薄膜の高精度で信頼性の高い解析を必要とする研究者や技術者に最適な先進的な研究グレードの機器です。堅牢で正確で、広範な校正とメンテナンスを必要とせずに信頼性の高い結果を提供できるため、薄膜分析に最適です。