中古 SOPRA IRSE-200-SE #9124701 を販売中

製造業者
SOPRA
モデル
IRSE-200-SE
ID: 9124701
ウェーハサイズ: 8"
ヴィンテージ: 2006
Ellipsometer, 8" Operating system: Windows XP SP2 Winse wafer s/w: 2.8.4.6 K7 Holder 1: Up to 300mm open FOUP K7 Holder 2: Up to 300mm open FOUP 2006 vintage.
SOPRA IRSE-200-SE楕円計は、厚さや組成などの薄膜特性を測定するために使用される強力な光学計測ツールです。光が通過したり、サンプルの表面から反射されたりするときに、光の偏光特性を決定することによって機能します。IRSE-200-SEは楕円測定法を用いて薄膜特性を測定します。エリプソメトリーは、測定されるサンプルの屈折率、厚さ、表面粗さの変化に非常に敏感な光学技術です。光源と偏光計の2つのコンポーネントを使用しています。光源はサンプルを照らし、偏光計は反射光の偏光の変化を測定します。SOPRA IRSE-200-SEは、光源に785nmのレーザーダイオードを使用し、二重ホモダイン楕円計を偏光計として使用しています。レーザダイオードは、比較的狭いスペクトル帯域幅で光を供給し、測定における信号対ノイズ比を向上させます。二重ホモダイン楕円計は、2つの偏光を利用して反射光の偏光を測定します。これにより、単一の偏光システムよりも正確な測定が可能になります。IRSE-200-SEは、数ナノメートルから数百ナノメートルまでの幅広い膜厚を測定することができます。レーザーダイオードが完全にコリメートされるため、金属や硬質プラスチックなどの非平面上の測定を高精度で行うことができます。また、可視光よりも高い波長で測定することができ、誘電スタックや有機材料の分析が可能です。SOPRA IRSE-200-SEは、リアルタイムの測定と分析、および実験後のデータ分析の両方を可能にします。カスタマイズ可能なユーザーインターフェイスを備えており、幅広い測定に対応できるため、幅広い種類のサンプルタイプに適しています。このシステムは、USB、イーサネット、またはWi-Fi経由で制御でき、どこからでも遠隔操作できます。全体として、IRSE-200-SE楕円計は薄膜の測定と分析に理想的なツールです。その精度と幅広い用途により、あらゆるラボや生産施設にとって貴重なツールとなります。使いやすさ、カスタマイズ可能なユーザーインターフェイス、リモートコントロール機能を備えたSOPRA IRSE-200-SEは、研究者や科学者が測定を最大限に活用できるように設計されています。
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