中古 SOPRA GES-5E #9401838 を販売中
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SOPRA GES-5Eは、光線の偏光の変化を測定し、分析することによって薄膜や層を分析するために使用される機器です。このモデルは汎用性が高く、直感的で信頼性が高いと考えられており、20ナノメートルから2000ナノメートルの間の試料の厚さを測定し、特定のフィルムを高精度で検査するために使用されます。このデバイスは楕円測定の原理に基づいて動作し、材料のさまざまな層とそれぞれの光学特性によって引き起こされる光線の偏光の変化を解釈して正確なデータを提供します。既知の発生角度が標的となり、二重検出器の配置を使用してビームの偏光を測定します。検出器は、高度なアルゴリズムとソフトウェアとともに、強力なARMプロセッサによって処理される散乱放射線の強度を記録し、結果としてグラフが形成されます。このグラフは、与えられた材料の偏光の変化とその厚さの測定値を表示します。GES-5Eは、使いやすいグラフィックインターフェイスとアプリケーションソフトウェアのセットからなる、データ分析コンピュータとタッチパネルユーザーインターフェイスを内蔵したユーザーフレンドリーなオールインワンデザインです。表示、データ分析、レポートに加えて、このインターフェイスは、任意の設定やパラメータを変更するためにアクセスすることができます。このユニットには、ビームスポットをサンプルステージ上の任意の所望の領域に配置し、1度以内に同じ発生角度を維持することができる機械式サポートアームが含まれています。これにより、サンプル表面の光学定数を測定する際の高精度が保証されます。SOPRA GES-5Eには、高輝度インシデント波長用の石英ハロゲンランプと、350nmから1000nmまでのデュアル検出スペクトル範囲が装備されています。また、生のデータ表示、ダイナミックマッピング、フルレンジのパラメータ測定など、幅広い測定機能を提供しています。その直感的な操作は、材料研究、半導体、光学などのさまざまな分野の研究者、エンジニア、ユーザーにとって理想的な選択肢です。
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