中古 SENTECH Senduro #293651563 を販売中

SENTECH Senduroは、様々な試料の薄膜厚、光学定数、表面粗さを測定するために使用される先進的な楕円計です。エリプソメータは、屈折率（n）、絶滅係数（k）、膜厚（t）、面粗さ（r）など、幅広い光学特性を持つサンプルを測定することができます。Senduroは、特定の波長と角度の組み合わせに合わせたレーザー源を使用しています。角度は6度から78度まで調整可能で、幅広いサンプル構成を評価することができます。さらに、ロータリーステージを内蔵することで、精密な角度アライメントと、サンプル測定のための広い角度範囲を可能にします。SENTECH Senduroは、洗練された光学センシングシステムを使用して、サンプルから反射される光の向きを分析します。このデバイスは、薄膜の変化に応じて光の偏光の変化を検出することができます。これにより、薄膜厚、屈折率、絶滅係数、面粗さなど、さまざまなパラメータを測定できます。Senduroは、追加のフィルターや検出素子を必要とせず、低メンテナンスで設計されています。薄膜の厚さは0。005まで、屈折率と絶滅係数は+-0。001までの解像度で、高精度です。このデバイスは直感的なソフトウェアを使用しており、ユーザーはデータをすばやく簡単に分析できます。最大2000の測定値を保存でき、データ転送速度が高く、大規模なデータセットをすばやく分析して保存できます。SENTECH Senduroは、薄膜特性と光学特性を素早く測定するために設計された、強力で正確で使いやすい楕円計です。精密な角度アライメントと幅広い波長と角度の組み合わせにより、正確なサンプル評価と高精度な結果を得ることができます。