中古 SENTECH SE 800PV #293651593 を販売中

SENTECH SE 800PVは、薄膜を測定するために特別に設計された楕円計です。楕円計は、厚さ、均一性、屈折率に関する情報を得るために、反射面またはtransmitBted面の光学活性を測定します。SE 800PVは、材料の厚さ、屈折率、光均一性の正確なプロファイルを提供する高精度デバイスです。SENTECH SE 800PVは、Mueller行列エリプソメトリーを利用して表面の光学活性を測定します。その測定は高精度であり、薄膜の分析と評価に必要なデータをユーザーに提供します。このデバイスには、サンプルの高解像度イメージングを可能にする2軸補償器が装備されています。SE 800PVで使用されるMueller matrix Ellipsometry法は、高輝度の偏光光源を利用しており、超精密な測定が可能です。SENTECH SE 800PVは、高温、振動、衝撃などの過酷な産業環境で使用されるように設計されています。コンパクトで、実験室や教室、製造現場での使用に適しています。このデバイスは、マクロからマイクロレベルまで、さまざまなサンプルサイズにも対応しています。これにより、幅広いテストやアプリケーションに最適です。SE 800PVに付属するソフトウェアは使いやすく、各サンプルの詳細なプロファイルを取得するための分析ツールをユーザーに提供します。さらに、このソフトウェアを使用すると、ユーザーはすべてのテストデータを単一のデータベースに保存および管理できます。また、印刷やデータのエクスポートもサポートしているため、テスト結果を同僚や他の施設と迅速かつ簡単に共有できます。全体的に、SENTECH SE 800PVは信頼性と高精度のデバイスであり、薄膜の測定に最適です。Mueller matrix Ellipsometryアプローチ、堅牢な設計、使いやすいソフトウェアにより、さまざまな産業環境で使用でき、サンプルの正確で詳細な分析が可能です。