中古 SENTECH SE 400ADV #9286513 を販売中

SENTECH SE 400ADV Ellipsometerは、可視領域から近赤外線（NIR）に薄膜表面を解析するために設計された汎用性と精密な光学測定装置です。このシステムは、半導体装置の開発やその他の光電、光学、光学コーティングの測定に適用される極めて薄いコーティングおよび透明材料を検出するように設計されています。SENTECH SE400ADVは、反射光の偏光状態を測定し、表面のフィルムの光学特性を正確に測定します。このユニットは、高精度で再現性のある自動および手動アライメントを提供します。また、大規模なデータ収集メモリと高速データ取得レートを備えているため、測定の拡張と高スループットのデータ取得が可能です。SE 400ADV Ellipsometerは、基板上の膜層に関する定性的な情報を提供することができます。さらに、このマシンは、組成、堆積率、地形、適合性、厚さなど、幅広い分析機能を提供します。Helmholtzコイルを使用することで、バックグラウンドノイズを低減し、より高精度な結果を得ることができます。SE400ADVには完全に自動化されたソフトウェアインターフェイスがあり、簡単で迅速なセットアップとデータ収集を可能にします。ユーザーは、測定パラメータとデータ収集パラメータを定義できます。直感的なグラフィカルインターフェイスにより、迅速な実験設計とデータ処理が可能です。さらに、ソフトウェアは、迅速かつ簡単な分析を可能にする収集されたデータの計算を自動的に生成します。SENTECH SE 400ADVは、ユーザーが定量的な結果を超えることを可能にする高度な分析ツールも提供しています。このアセットを使用すると、軌道図やエネルギー再生図など、測定されたフィルム層を詳細に可視化できます。さらに、解析モデルは、組成、界面粗さ、光定数などの高度な表面特性を生成することができます。SENTECH SE400ADVエリプソメーターは、薄膜表面を分析するために設計された使いやすく、汎用性が高く、精密な光学測定装置です。半導体デバイスの開発など、高速データ取得率と幅広い解析能力により光電、光学、光学コーティングの測定に最適です。自動化されたソフトウェアインターフェイスと高度な解析システムにより、SE 400ADVを使用すると、ユーザーは分析を成功させるために必要なすべての材料特性を迅速かつ正確に収集できます。