中古 SENTECH SE 400ADV #9202977 を販売中

SENTECH SE 400ADVは、薄膜材料の特性を測定するために設計された先進的な楕円計です。この装置は、光学コーティング、半導体材料、ナノスケール層など、幅広い用途向けに設計されています。幅広い光学厚さ、屈折率、フィルム応力、層材料を正確に測定できます。SENTECH SE400ADVは、0。1nm以下から光学厚さ数ミクロンまで、高精度、再現性、測定速度を提供します。このシステムはクリックレス・ローテータを備えており、0。3秒単位までの連続角度測定と角度設定が可能です。偏光顕微鏡は高解像度の画像に最適化されており、薄膜の迅速な特性評価が可能です。SE 400ADVユニットには強力なWindowsソフトウェアパッケージが付属しています。GUIにより、パラメータやデータ分析を簡単に操作できます。ユーザーフレンドリーなインターフェイスにより、迅速かつ効率的なセットアップと高度なデータ分析が可能です。また、データのアーカイブと復元も可能で、異なる時間帯のフィルムパラメータの比較に使用できます。SE400ADVには、信頼性と正確な測定を保証する自動アライメントマシンが付属しています。自動化されたツールは、手動調整の必要性を排除し、複数の測定の間で一貫したパフォーマンスを保証します。さらに、アセットは、構造化されたフィルムなどの不規則な表面を持つサンプルを測定することができます。SENTECH SE 400ADVは、クアドラント検出器を内蔵しており、複数のサンプルを同時に解析することができます。リアルタイムのデータ収集により、高スループットを実現し、結果のグラフィック表示により、サンプルパラメータ分布を素早く簡単に比較できます。さらに、左右の円偏光器、IRファイバー、可視および近赤外線範囲で利用可能なレーザーなど、複数のビームプラットフォームを装備することができます。SENTECH SE400ADVは、薄膜特性評価のための高度で高精度で高性能なプラットフォームを提供します。ユーザーフレンドリーなインターフェイスと自動化されたアライメントにより、この機器は研究および品質保証アプリケーションの両方に信頼できるツールです。このモデルを使用することで、研究者は薄膜特性を迅速かつ正確に把握し、測定の精度と再現性を確保することができます。