中古 SENTECH SE 400 #9208990 を販売中

SENTECH SE 400エリプソメータは、薄膜や表面の光学特性を測定するために使用される光学薄膜特性測定ツールです。この装置は、偏光シフトの角度と偏光単色光の楕円度を測定し、サンプル表面から反射するように設計されています。このシフトと楕円率は、薄膜の厚さ、屈折率、相対誘電特性など、サンプルの光学特性によって異なります。SENTECH SE400エリプソメーターは、コンパクトなフットプリントを備えた卓上装置です。光学、メカニクス、エレクトロニクス、ソフトウェアを組み合わせて、反射防止および透明誘電コーティングなどの薄膜の汎用性と正確な解析を行います。この装置は、高速回転補償器と2角度楕円計ヘッドを備えており、最も複雑なサンプルの特性評価に必要な柔軟性を提供します。SE 400 Ellipsometerは、高度な光学およびサンプル測位システムを使用して非常に精密な光学データを提供し、自動化、正確、再現性、信頼性の高い測定を行います。この装置は、サンプルの絶対特性と相対特性の両方を測定することができ、膜厚、屈折率、絶滅係数、光定数、異方性などの幅広い用途に使用できます。器械はセットアップし、作動し、そして維持すること容易です。カラーLCDにはシンプルなグラフィカルユーザーインターフェイスがあり、膜厚、屈折率、光学定数など、オペレータが選択可能なパラメータと出力を表示します。出力は簡単に表示および印刷することができます。SE400 Ellipsometerは、正確かつ迅速に測定できる幅広い光学パラメータを備えた信頼性が高く、耐久性が高く、正確な機器です。これにより、薄膜特性評価アプリケーションに最適です。