中古 SEMILAB SE-2010 #293822791 を販売中

SEMILAB SE-2010は、さまざまな業界の研究開発ラボで薄膜特性評価用に設計された高精度エリプソメータです。楕円測定は、材料表面から反射する光の偏光変化を測定する非破壊光学技術で、薄膜の膜厚、屈折率、その他の光学特性に関する貴重な情報を提供します。SE-2010楕円計は、正確で信頼性の高い薄膜分析を可能にする高度な機能と機能を備えています。SEMILAB SE-2010の重要な要素の1つは、分光楕円測定機能であり、紫外線から近赤外線まで幅広い波長で測定できます。このスペクトル範囲は、異なる光学特性と厚さを持つ薄膜の特性評価を可能にし、楕円計の汎用性と適用性を高めます。SE-2010楕円計は、薄膜試料と相互作用する光の偏光状態の変化を測定する原理に基づいて動作します。反射光のp偏光成分とs偏光成分の振幅比や位相差などの楕円測定パラメータを解析することで、薄膜特性に関する貴重な情報を抽出することができます。これらのパラメータは、膜層の厚さ、屈折率、およびその他の光学定数を計算するために使用されます。SEMILAB SE-2010楕円計はモジュール式光学構成で設計されており、カスタマイズされた構成で特定の測定要件を満たすことができます。エリプソメーターには、さまざまな光源、検出器、および光学部品を装備して、さまざまな薄膜サンプルの測定セットアップを最適化することができます。この柔軟な構成により、SE-2010はさまざまな測定シナリオに適応し、正確で信頼性の高い結果を提供できます。SEMILAB SE-2010楕円計は、分光機能に加えて、さまざまな薄膜用途に適した測定モードと技術を提供します。エリプソメータは、単純な膜構造を素早く分析するための単波長測定と、異なる入射角度で薄膜の光学特性を調べるための可変角度測定を行うことができます。SE-2010はまた、高い光学異方性または複雑な光学挙動を持つサンプルを測定するための回転補償器と分析器のオプションを備えています。SEMILAB SE-2010楕円計は、直感的な操作とデータ分析を可能にする専用ソフトウェアによって制御されています。このソフトウェアは、測定パラメータを設定し、データを取得し、結果を処理するためのユーザーフレンドリーなインターフェイスを提供します。ソフトウェアには高度なデータフィッティングアルゴリズムが含まれており、楕円測定から薄膜パラメータを正確に抽出し、高品質で信頼性の高いデータ分析を保証します。全体的に、SE-2010楕円計は、薄膜特性評価のための強力なツールであり、高度な分光機能、多目的測定モード、およびユーザーフレンドリーな操作を提供します。精度と信頼性を兼ね備えたSEMILAB SE-2010は、材料科学、半導体産業など、正確な薄膜解析が不可欠な研究分野で幅広い用途に適しています。