中古 SEMILAB PS 2000 #9244402 を販売中

SEMILAB PS 2000エリプソメーターは、高度な精密薄膜透明コーティング用に設計された強力で多機能な楕円計装置です。このシステムは、インシデントビームの3つの偏光成分すべての偏光特性を同時に測定することができ、その構成材料の光学特性に依存するサンプル角度とサンプルの特性を正確に評価することができます。このユニットは、薄膜の楕円測定、光学定数の測定、ダイヤモンド状およびナノ結晶炭素薄膜の特性評価、表面形態の測定、サンプル特性（屈折率や絶滅係数など）の研究など、幅広い用途に使用できます。PS 2000のハードウェアは、可視光と赤外線の両方の同時調査と特性評価のために特別に設計された、コンパクトで使いやすいシングルコア楕円計で構成されています。機械は、回転偏光器、サンプルおよび検出器、モノクロメータ、偏光ビームスプリッター、および2つの測定アームの長さで構成されています。偏光器は、マイクロコントローラユニットを介して制御されるステッピングモータによって駆動されます。サンプルと検出器は、冷却された光ファイバーを介して検出器に接続され、ユーザーは可視領域と赤外領域の両方から同時にスペクトルデータを取得することができます。2つの高出力レーザーで構成される効率的な固定偏光ビームスプリッタを使用して、高い測定精度を実現します。コリメートレンズ、分散器、スキャンステージからなるモノクロメータは、ステッピングモータによって駆動され、マイクロコントローラユニットを介して制御されます。SEMILAB PS 2000に関連するソフトウェアには、フル機能のユーザーインターフェイス、PCLコントローラ、直感的で強力なグラフィカルユーザーインターフェイスが含まれています。また、高精度の測定プログラムが含まれており、楕円計測の分野で初めて反射率または発生角度の測定をサポートします。PCLコントローラは、あらかじめ定義されたASRとAMR設定でサンプルと測定を自動的に制御し、ユーザーは繰り返し可能な実験のシナリオを簡単に作成および保存できます。標準機能に加えて、PS 2000にはオプションのツールキャリブレーションコンポーネントも含まれており、測定モデルで使用する光学アセットを直感的にキャリブレーションする方法を提供します。この方法により、ユーザーは正確かつ再現可能な特性評価のための機器を素早くセットアップすることができます。その他のシステムコンポーネントには、光学定数を測定するための低輝度源、迅速なデータ取得のための液体窒素冷却検出器、および手動偏光校正が含まれます。SEMILAB PS 2000 Ellipsometerは、今日の研究開発研究所にある先進的な薄膜透明コーティングの多くを特徴付けるための強力で信頼性の高いツールです。その革新的な設計により、ユーザーは比類のない精度で材料特性と光学定数を迅速かつ正確に特徴付けることができます。可視光と赤外光の両方の偏光を同時に測定することができ、材料の詳細かつ包括的な特性評価を提供することができます。