中古 SEMILAB IR 3100s #9298698 を販売中

SEMILAB IR 3100sは、SEMILABの最先端のエリプソメータで、薄膜サンプルの迅速かつ正確な測定を可能にします。楕円測定は、ナノメートル（nm）から数百ナノメートルまでの透明な均一膜の厚さと屈折率を決定するために使用される光散乱技術の一種です。IR 3100sエリプソメーターは、特許取得済みの干渉反射技術を使用して薄膜特性を研究しています。この装置は、光干渉の原理に基づいており、研究されている各材料のブリュースター角に近い角度の記録角度で、緑色レーザー源からの光のデュアルビームを使用して動作します。2つのビームによって生成される干渉パターンは、偏光感受性検出器によって検出され、フィルムの厚さと光学特性に関する情報を導き出すために分析されます。このシステムは、3つの照明と3つの検出モードを備えており、ユーザーは目に見えるコントラストのないフィルムから、層状半導体材料などの複雑な材料の単層膜まで、幅広いサンプルを分析することができます。ユーザーフレンドリーなソフトウェアは、単一または複数のサンプルの測定を容易にする、自動化された分析を可能にします。また、各サンプルの楕円曲線のライブディスプレイにより、各測定のリアルタイム解析が保証されます。SEMILAB IR 3100sエリプソメーターの再現性は0。8％、精度は0。7％です。これは、透明膜の光学特性を非破壊測定できる、品質評価および故障解析アプリケーションにとって貴重なツールです。半導体、光学、光学コーティング、太陽光、フラットパネルディスプレイなど、さまざまな業界で使用されています。IR 3100sエリプソメーターには、自動バックグラウンド減算、USP機能の向上、キャリブレーション機能の内蔵、高速イメージングCCDカメラなど、さまざまな機能が搭載されています。このソフトウェアは、さまざまなサンプル特性を分析するためのさまざまな機能を提供し、ユーザーが実際のサンプルとシミュレートされた結果を比較することができます。器械の柔軟性およびモジュラー設計のおかげで、研究か産業適用必要性を満たすために容易にカスタマイズ可能です。