中古 SEMILAB GES-5E #9239630 を販売中

SEMILAB GES-5E Ellipsometerは、幅広い材料を使用したフィルムやインタフェースの光学特性を測定するために設計された汎用性と精密な機器です。SEMILAB GES5Eは、表面の光学特性から高度な角度測定まで、さまざまなアクティビティに適応するための独自のパラメーターの組み合わせを提供します。さらに、GES-5Eには自動サンプル位置決め機能を備えた電動サンプルステージと、簡単なナビゲーションと分析のための高感度ソフトウェアが装備されています。GES5Eは、サンプル表面から反射した偏光を利用して、波の反射率と偏光状態を測定します。2つの独立した角度検出器と同時に測定される複雑な値の量は、材料またはサンプルのパラメータの正確な表現を推測するために使用されます。SEMILAB GES-5Eは、最大+/-4。8度の角度測定範囲を提供し、単一の角度範囲内で複数のサンプル測定を可能にします。さらに、512の溝/mmの格子を備えた高精度モノクロメータを備えており、1ステップあたり最大0。003 nmのスペクトル分解能を実現しています。また、電動キャリブレーションアームを備えた高速グレーティングオートフォーカスシステムを搭載し、デッドゾーンを最小限に抑える正確なフォーカスを実現しています。SEMILAB GES5EはSEMILABソフトウェアと互換性があり、直感的で強力なユーザーインターフェイスとデータ分析機能を提供します。このユーザーフレンドリーで包括的なソフトウェアは、データ操作（プロット、数学演算子など）、データレポートなどの高度なツールを提供します。また、エリプソメータデータ用に特別に設計された特殊アルゴリズムも含まれており、ミュラー行列とプリズム分光法の測定をサポートしています。要約すると、GES-5E Ellipsometerは、さまざまな材料を使用して表面やインタフェースの光学特性を測定するための信頼性の高い汎用性の高いツールです。高速オートフォーカスグレーティングシステムと、簡単なナビゲーションと分析のための洗練されたソフトウェアを搭載しており、強力なデータ操作機能、レポート作成サポート、楕円計データ用に特別に設計された特殊なアルゴリズムを提供します。