中古 RUDOLPH SS1 #9126170 を販売中

RUDOLPH SS1は、光学異方性を正確に測定するために設計された、自動化された高性能の分光楕円計です。このシステムは、屈折率、絶滅係数、吸収係数、およびサブナノメートル精度のある材料の光学特性の変化を測定するために設計されています。SS1は、複雑で使いやすいソフトウェアパッケージを備えており、複数の発生角度と偏光角度の解析が可能であり、乾燥および湿式の両方の測定技術が可能です。RUDOLPH SS1の心臓部は分光フォーカス光学モジュールで、1つのレーザーパルスで最大4つの異なるサンプルを同時に測定できます。レーザーパルスは、4分波プレート（QWP）などの光学素子をサンプルアームに導入するために使用されます。QWPは、角度依存屈折率の差を高精度で測定できるように、サンプルに偏光異方性を導入するために使用されます。この測定は、サンプルの光学特性を決定するために使用されます。SS1は完全に自動化されており、さまざまなサンプルを自律的に測定できます。ユーザーフレンドリーなソフトウェアインターフェイスを備えており、発生角度、波長範囲、所望の解像度などの分光パラメータを簡単に操作できます。このシステムは、サンプルに関連する様々な光学定数（吸収、反射、複射など）を決定して事前にプログラムされています。RUDOLPH SS1によって収集されたすべてのデータは記録され、さらなる分析のためにソフトウェアインターフェイスを介してユーザー定義することができます。また、SS1はそのパフォーマンスに非常に汎用性があります。その運用の柔軟性により、サブナノメートル分解能の薄膜コーティング、電子材料、および半導体ベースのデバイスを測定することができます。このシステムは、偏光異方性の度合いが異なるサンプルを同時に測定するための可変偏光セレクタで構成されています。RUDOLPH SS1は、サブナノメートル精度で光学異方性を正確に測定できる高度な分光楕円計です。自動化されたインターフェイスとユーザーフレンドリーな機能により、幅広いサンプルを分析するための信頼性の高い汎用性の高いソリューションです。