中古 RUDOLPH S3000A #9311178 を販売中

RUDOLPH S3000A Ellipsometerは、薄膜の厚さ、屈折率、光学定数およびその他の材料特性を測定するために使用される非侵襲的な光電子機器です。その主な機能は、サンプルの表面層の高精度な説明を提供することです。エリプソメーターは、偏光ビームに沿ってサンプル表面層から反射する光度の変化を測定することによって機能します。反射強度は異なる角度で測定され、反射光データは専用のソフトウェアスイートで処理され、表面層の厚さ、屈折率、光学定数およびその他の材料特性を決定します。RUDOLPH S 3000 Aは532nm波長を利用し、途切れない360°XYZ測定ステージと統合されています。これにより、最大24個のリレーでマッピング機能を使用して、さまざまなサンプルタイプの厚さ、均一性、屈折率を決定できます。高解像度イメージングカメラは、アライメントと表面酸化物層イメージングを容易にします。シンプルなユーザーインターフェイスにより、定期的なプロセス管理と品質監視が可能です。S3000Aは屈折率と層の厚さの精度をそれぞれ3nmと3mradと誇っています。この極めて高い精度により、S 3000 Aは薄膜成膜検証、光学フィルター特性評価、半導体フィルム開発、その他多岐にわたる研究分野において好ましい装置となります。標準的なベアボーン機能を超えて、RUDOLPH S3000Aは楽器のアライメントと操作を最適化および微調整するための追加オプションを備えています。また、すべての操作と要件をサポートするためのカスタマイズされたソフトウェアソリューションとアプリケーションのスイートも含まれています。要約すると、RUDOLPH S 3000 A Ellipsometerは、サンプルの第2層を測定するための高精度で汎用性の高い機器です。その統合されたユーザーインターフェイスとカスタマイズされたソフトウェアスイートは、薄膜材料の測定の精度と再現性が最も重要な研究環境に最適です。