中古 RUDOLPH S 300 #9257404 を販売中

RUDOLPH S 300は薄膜計測用の先進楕円計です。楕円測定は、薄膜の厚さと光学特性を測定するために使用される非破壊技術です。試料から反射光を測定することで、膜層の厚さ、屈折率、消滅係数などの情報を測定することができます。RUDOLPH S300は、1〜数百ナノメートルの薄膜を高精度かつ精度で測定するために設計された楕円計です。キセノンアークランプ、タングステンハロゲンランプ、超大陸レーザーの3種類の入射光源を備えています。また、CCDカメラと正確なモノクロメータを組み合わせることで、広いスペクトル範囲での高速かつ正確な測定が可能です。S-300は特許取得済みのサンプルステージを使用し、機械部品、空気部品、真空部品を組み合わせてサンプルを高精度に動きます。また、空気式チルトモータと2つの精密メカニズムを備えており、発生角度を正確に測定できます。エリプソメーターにはオープンソースソフトウェアパッケージが装備されており、ユーザーは特定のニーズに合わせてソフトウェアをカスタマイズできます。また、RUDOLPH Research Analyzerが付属しています。これにより、ユーザーはハードウェアとソフトウェアをインターフェイスし、強力なデータ分析を実行できます。RUDOLPH S-300は、広い波長範囲、精密力学、オープンソースソフトウェアを考慮し、信頼性の高い薄膜測定を必要とする研究開発組織に最適です。その正確で高精度な測定、およびソフトウェアをカスタマイズする能力により、さまざまな薄膜計測アプリケーションに最適です。