中古 RUDOLPH FE VII #9397723 を販売中

RUDOLPH FE VIIは、薄膜の光学特性を正確に測定するために設計された先進的な楕円計です。RUDOLPH FEVIIのような楕円計は、一般的にフィルムやコーティングなどのサンプル表面から反射した光の位相と振幅を同時に測定することによって機能します。反射光の強度と偏光を測定することにより、FE-VIIは膜およびコーティングの光学特性（厚さ、屈折率、絶滅係数など）を決定することができます。FEVIIは、高解像度のイメージング楕円計とデジタルスキャンコントローラを備えており、厚さ50nmまでのフィルムを正確に測定できます。エリプソメーターは、カスタムフィルムアプリケーション用に構成することもでき、1状態につき最大4個の検出器で、一般的なすべての偏光状態を使用するように調整することができます。また、最大10つの波長を同時に選択できるため、波長に依存した測定に役立ちます。高精度に加えて、RUDOLPH FE-VIIは1000測定/秒のスキャン速度で高速スキャンが可能です。これにより、テスト時間を短縮しながらも正確な結果を得ることができます。このシステムには、ノイズレベル0。05％の8ビット、356 x 262ピクセル冷却CCDアレイ検出器、および角度分解能0。2°のスラットミラーアクセサリも含まれています。FE VIIの分析機能は、SUNYSide®ソフトウェアを内蔵しており、複雑なフィルムに対して確実な操作と自動データ処理を提供します。また、カーブフィッティング、波長フィルタリング、TFCalcリアルタイム計算など、幅広いデータ分析が可能です。全体として、RUDOLPH FE VIIは、さまざまな薄膜光学特性を測定できる非常に正確で信頼性の高い楕円計であり、精度と速度を必要とするアプリケーションに最適です。