中古 RUDOLPH FE VII #9306017 を販売中

RUDOLPH FE VIIは、RUDOLPH Technologies Inc。が開発した先進エリプソメーターです。ナノレベルからミクロンレベルまで幅広い測定に対応し、金属、ポリマー、複合材料、半導体など様々な材料の測定に使用できます。この装置は、特許取得済みの干渉のないイメージングベースの偏光測定技術を備えており、ユーザーは数分で高精度で反復可能な結果を得ることができます。高度なイメージングベースの偏光変調技術により、半波プレートや補償プレートなどの従来の光学部品が不要になり、より効率的でコンパクトな光学構成が可能になります。RUDOLPH FEVIIはObserverとProfilerという2つのインストゥルメントをサポートしています。Observerモデルは、薄膜の分析に使用され、厚さ4ナノメートルまでの正確な結果を生成することができます。プロファイラモデルは、皮膚分析に使用され、塗料、コーティング、およびその他の材料の表面特性をさらに精度の高いレベルに測定することができます。このシステムは、Windowsベースのインターフェイスを使用して高度に自動化されたセットアップの下で動作するため、手動での介入は不要です。データ収集と分析ソフトウェア、およびプロセスを制御するためのユーザーインターフェイスが組み込まれています。このシステムには、インシデント光のグラフィカルなサムネイル表示も含まれており、ユーザーは、最も正確な結果をもたらすインシデント光波長の正しい帯域を簡単に選択することができます。FE-VIIは、薄膜および表面試験の研究開発および製造のための貴重なツールです。それは数分で正確な結果を提供し、Windowsインターフェイスで使いやすいです。このデバイスは、光学部品の必要性と面倒な手作業を排除し、高精度で再現性のある結果を提供します。