中古 RUDOLPH FE VII #9161281 を販売中

RUDOLPH FE VIIは、薄膜および表面の電子的および光学的特性を測定するために使用されるRUDOLPH Technologies、 Inc。の洗練された正確な楕円計です。その7つの（7）異なる構成は、厚さ、屈折率、絶滅係数、表面粗さ、抵抗、バンドギャップ、薄膜の光学定数などの幅広いパラメータを測定することができます。調節可能なサンプルアーム、高感度検出器、200〜800nmの波長範囲の固体レーザダイオードを内蔵しています。RUDOLPH FEVIIは、試料の光学特性を測定するために、ゴニオメーターを備えた光学系を使用します。ゴニオメーターは、サンプルから光線を90度の位置にある2つの検出器に回転させ、サンプルの光学パラメータを正確かつ正確に決定することができます。偏光ベースの光学パラメータを測定するために、さらに偏光アクセサリをシステムに追加することができます。この装置は、さまざまな測定方法で事前にプログラムされているため、さまざまな材料特性評価タスクに最適です。直感的でユーザーフレンドリーなインターフェイスで、個別のデータ制御ウィンドウを備えているため、使いやすくスムーズな操作が可能です。また、強力で柔軟なデータ処理および分析ソフトウェアを備えているため、ユーザーはデータを迅速に処理し、問題や傾向を特定し、レポートを生成することができます。FE-VIIは0。2nmから1000nmまでの厚さのフィルムおよび4。0まで屈折率の価値を測定することができます。この装置は、最大6,000nmまでの膜厚を測定するためのスタンディングウェーブアクセサリーと、抵抗率、バンドギャップエネルギー、誘電定数、光学定数、表面粗さ、屈折率および絶滅係数などの広範な光学パラメータで構成することもできます。全体として、FEVIIは先進的で堅牢で汎用性の高い楕円計であり、さまざまな材料特性評価プロセスに最適です。事前にプログラムされた機能により、最も要求の厳しい技術アプリケーションでも簡単に使用でき、強力なソフトウェアにより、ユーザーはデータをすばやく処理および分析できます。これにより、研究者や材料科学者にとっても理想的な選択肢となります。