中古 RUDOLPH FE VII #9148236 を販売中

RUDOLPH FE VIIは、光学薄膜の研究開発用に設計された高度なマルチアングル自動分光楕円計です。薄膜構造の光特性を高精度・高精度で測定する高度な光学・データ収集機能を搭載しています。このデバイスは、190〜1,600ナノメートルのUV可視NIRスペクトルカバレッジを備えた波長選択可能なモノクロメータを使用しています。この装置は、異なる入射角度でサンプルの光学特性をシミュレートし、サンプルの光学特性を正確に特徴付けるように設計されています。RUDOLPH FEVIIの中心には、最大3つのサンプルを一度に自動測定できるモジュラー自動サンプルステージがあります。堅牢なサンプルステージは、最大200ナノメートルの垂直変換範囲と300ナノメートルの半径回転範囲の線形運動と高速スキャンを備えています。リニアモーションは、0。001度までの分解能で、サンプルを最適な入射角に配置するために使用されます。サンプルステージでは、可変角度サンプルステージスキャンのためのデュアル光学偏光も可能です。エリプソメータは、さまざまなビームスキャンコンポーネントを使用して、サンプル光学特性の自動二重偏光および可変角度測定を容易にします。システムは、異なる角度で入射ビームを正確にシミュレートするために使用することができ、タングステン、キセノンまたはブロードバンド光などの光源のセットが含まれています。このユニットには、反射角度を測定し、サンプルの強度、屈折率、厚さを評価するフォトデテクタアレイが装備されています。FE-VIIソフトウェアと組み合わせた高度な光学および光電子コンポーネントにより、サンプルの正確な角度と強度スキャンを行い、サンプルの光学特性をシミュレートすることができます。自動化された機能に加えて、RUDOLPH FE-VIIには、データを分析するためのさまざまな校正およびデータ分析ツールが含まれています。これらには、サンプルと基板の光学特性のライブラリ、温度制御マシン、カスタムデータ分析およびレポート作成ツール、および測定パラメータのデータベースが含まれます。ユーザーフレンドリーなインターフェイスと豊富な技術力により、FE VIIは光学薄膜の研究開発に最適なソリューションです。