中古 RUDOLPH FE VII #9097170 を販売中

RUDOLPH FE VIIは、分光技術を使用して光が表面から反射する方法を測定し、光学特性に関連する正確なパラメータを計算する高度な楕円計です。この装置は、UV可視分光計、偏光計、可変角度サンプルステージを組み合わせて、様々な材料表面の屈折率、膜厚、フィルム応力、およびその他の光学特性を測定します。二重回転補償板を使用して、光は偏光され、その光学特性に基づいて変化した特性で光を反射するサンプル表面に様々な角度で向きます。分光計は、複数の角度と波長で反射光の強度を収集し、フィルタし、測定します。このデータは、サンプルの光学特性を計算するために使用されます。RUDOLPH FEVIIの重要な特徴は、高精度と再現性です。この装置は、常にサンプル表面と垂直な入射ビームを維持する高度な電動サンプルステージを使用しています。圧力制御システムはまた、動作中のサンプルの動きが発生しないことを保証し、0。2nmの再現性とより良い全体的な精度で正確な測定をもたらします。FE-VIIには、データ操作を簡素化するための強力なデータ解析パッケージも装備されています。このソフトウェアは、迅速かつ簡単な測定結果分析を可能にし、将来の外部アプリケーションでの分析のためにデータは未加工のテキストフォーマットで保存されます。サンプルフィルム形状や応力、屈折率などを考慮した位相測定解析用のスペシャリティパッケージも用意されています。RUDOLPH FE-VIIは、計測、光学設計、研究開発、工業製造、品質管理、環境モニタリングなど、さまざまな光学および薄膜アプリケーションに適しています。また、原子層からミリメートルまでの薄膜の全範囲を測定することができます。その高度な設計と機能は、堅牢で正確なコンポーネントと製品の測定を保証します。