中古 RUDOLPH FE VII #182438 を販売中

RUDOLPH FE VIIはエリプソメータで、表面膜の厚さ、偏光、光定数、屈折率の光学現象を測定するために使用される装置です。小さな角度（0。05度まで）での光分極の変化を測定することができます。RUDOLPH FEVIIは、LED技術を搭載した定常光源であるLumencor SOLAソースで動作します。LEDは、0〜87degreesの範囲の発生角度でサンプルを照らします。光の偏光の変化を測定するために、4分波プレートと偏光器が使用されます。データは発生角度で収集され、ミューラー行列の形で収集されます。FE-VIIは通常、薄膜特性と透明サンプルの光学特性の特性評価に使用されます。液体、ガス、結晶、コーティングの光学特性の測定など幅広い用途に使用できます。さらに、RUDOLPH FE-VIIは、ナノスケールの薄膜の層を分析することができます。精密な測定により、フィルム構造、組成、およびその流動性に関する詳細な洞察を得ることができます。FE VIIは、さまざまな設定で動作するように設定できるため、非常に汎用性が高くなります。例えば、ガラススライドやシリコンウエハなど、さまざまな素材の反射モードやトランスミッションモードで使用できます。サンプルは、0から87degreesまでの範囲の発生角度を持つ極座標系で測定することができます。さらに、FEVIIは、層間屈折率と厚さプロファイルを持つ多層サンプルの特性を分析することもできます。RUDOLPH FE VIIには、測定の精度と精度を最大化するためのさまざまなアクセサリーが装備されています。ソフトウェアを使用して、包括的なデータ分析とデータ可視化を提供します。このソフトウェアは、ユーザーが必要な情報をすばやく取得することもできます。さらに、広い波長（350nm-1100nm）の薄膜のスペクトル応答を測定できるスペクトル楕円計も用意されています。RUDOLPH FEVIIは、高速かつ正確な薄膜測定を得るために不可欠なツールです。非常に汎用性が高く、幅広いサンプルの薄膜特性や光学特性を測定することができます。精度と精度を最大化するために、いくつかのアクセサリーが装備されています。このデバイスは迅速かつ包括的なデータ分析を提供し、ユーザーは必要なデータをすばやく取得できます。さらに、Spectral Ellipsometerとの互換性により、さらなる測定機能を提供します。