中古 RUDOLPH FE IIID #293660842 を販売中

RUDOLPH FE IIIDは、屈折率や薄膜や界面の厚さなどの光学パラメータを測定するために使用される高度な楕円分光計です。この装置は、半導体、誘電体、ポリマー、コンビネーションフィルムなどの幅広い材料を測定することができる、自動、操作が簡単で堅牢なプラットフォームです。RUDOLPH FE-IIIDシステムは、強力な1。5 mW HeNeレーザー、洗練されたソフトウェア制御とフィードバック、および無制限の高さのサンプルを分析できる反転光学ヘッドを組み合わせています。このシステムは、無制限の高さのサンプルが可能なだけでなく、数ナノメートルの厚さまでの楕円計の測定も可能な反転光学ヘッドで構成されています。光学ヘッドには、-90°から+90°の精密な回転調整を可能にする電動偏光器、補償器、サンプル軸があります。CCD検出器の設計も提供され、250nmから950nmまでの迅速なデータ取得時間と均一なスペクトル応答を提供します。632。8nmで作動するHeNeレーザーは非常に安定しており、優れたビームモードフィルタリングを備えています。この安定性により、幅広い角度でより正確な測定が可能になります。レーザーはまた、反射分光法やミューラー・マトリックス・アプリケーションなどの他の技術との使用に適した高反射測定を可能にします。FE III Dには調節可能な光源が含まれており、偏光透過率と反射/透過スペクトルによる薄膜特性評価に適しています。偏光分光法でスペクトルを得ることができ、サンプルのスペクトルと比較することができます。さらに、RUDOLPH FE III/Dは、干渉色、透過/反射係数、およびサンプルの方位角および極分散を測定することができます。直感的なソフトウェアは使いやすさのために設計されており、ユーザーはサンプル名、厚さ、屈折率などの関連データを入力することができます。また、データ分析とさまざまなモデリング機能も提供します。ユーザーは、さらなる分析や同僚との共有のために、複数の形式でデータをエクスポートできます。FE III/Dは、柔軟な光学ヘッド設計、調整可能な光源、HeNeレーザー安定性、および強力なソフトウェア制御を備えた信頼性の高い強力な分光計です。これにより、FE IIIDは、幅広い材料に対して高精度なデータと迅速な測定を必要とする楕円計アプリケーションに最適です。