中古 RUDOLPH FE IIID #293604305 を販売中

RUDOLPH FE IIID Ellipsometerは、偏光と楕円測定の原理を利用して表面の光学特性を測定する高度な光学計測装置です。薄膜の厚さや表面パラメータを測定するとともに、薄膜の物理的特性を様々な基板上でフィードバックします。RUDOLPH FE-IIIDエリプソメータは、さまざまな機能と機能を備えて設計されており、要求の厳しい光学測定に最適です。FE III Dエリプソメータは固定および可変角度ジオメトリを使用しており、正確な測定と薄膜特性の信頼性の高い特性評価を提供します。この最先端の技術により、インライン測定とラボ測定の両方が可能になり、発生角度を手動で変更する必要がなくなります。30〜85°の可変角度範囲により、同一試料での発生角度が可変する薄膜の測定が可能です。さらに、FE IIID Ellipsometerは高感度の偏光検出器を備えています。このユニークな機能により、角度依存楕円測定パラメータ（振幅、位相）を取得できます。また、優れた波長分解能と検出精度を発揮し、薄膜や表面特性の測定に最適です。FE-IIIDエリプソメーターには、簡単なユーザーエクスペリエンスのためのSEARソフトウェアが付属しています。SEARは、レイヤーモデリング（基板上の薄膜のモデリング）、スタックモデリング（薄膜の複雑なスタックのモデリング）、測定パラメータのグラフ化など、幅広い解析機能を備えたユーザーフレンドリーなインターフェイスです。このソフトウェアは、簡単な測定設定を可能にし、包括的なデータ分析機能を提供する直感的なプラットフォームです。RUDOLPH FE III D Ellipsometerは、高度な楕円測定アプリケーション用に設計されたいくつかのハードウェア機能も備えています。補償された高速液晶（HSLC）検出器の回転を容易にする遠隔制御モータを搭載しています。これにより、サンプルの角度依存に関する情報を提供する角度依存測定が可能になります。さらに、機械化されたサンプルステージを備えており、サンプルの位置決めが容易です。また、サンプル変更をさらに迅速化するための簡略化されたサンプルチェンジアウトも付属しています。RUDOLPH FE III/D楕円計は、精密光学計測に最適です。その強力な機能により、薄膜特性評価や光学特性測定などの用途に最適なデバイスです。FE III/D Ellipsometerは、ユーザーフレンドリーなSEARソフトウェア、先進技術、およびその多くの機能により、薄膜および表面の信頼性の高い正確な測定と特性評価を提供します。