中古 RUDOLPH FE III #9187409 を販売中

RUDOLPH FE IIIは、高精度で冷光反射計を備えたコンパクトでフル機能のエリプソメーターです。薄膜および表面特性評価の研究開発に特化して設計されています。この機器は、シンプルで使いやすいソフトウェアインターフェイスを使用して、すべての測定パラメータを構成し、さまざまなサンプルを処理します。RUDOLPH FEIIIエリプソメータは、照明源、光学系、ユーザーインターフェース、解析ソフトウェアで構成されています。照明源は、連続波長を提供するスリットを備えた、ほとんど非伝導光源です。光学ユニットには、白色または単色光源、偏光プリズム、補償器、測定素子、光受信機が含まれています。光レシーバは、顕微鏡の目的の背面にあるCCDカメラで構成されています。光学機械は薄いフィルムおよび表面の並外れた、通常の光学定数を測定するように設計されています。ユーザーインターフェイスはシンプルで直感的です。それはサンプル角度および他の変数の精密な調節を可能にします。データのさらなる分析とグラフ化のためにデータを保存することができます。FE-III Ellipsometerに含まれるソフトウェアは、屈折率、絶滅係数、光定数、材料の厚さなどの物理パラメータの計算を提供します。また、多測定点解析、スペクトル測定、分散測定、偏光依存をキャプチャする角度変動などの高度な機能も備えています。RUDOLPH FE-III Ellipsometerの主な利点は、高速かつ正確な測定シングルビーム構成とソフトウェアの使いやすさです。このツールは、産業および研究指向のアプリケーションの表面および薄膜特性の特性評価に最適です。これは、光学特性の正確な測定を行い、サンプルの特性を正確に特徴付けるために必要なすべてのツールをユーザーに提供します。